低温钙钛矿闪烁体和具有低温钙钛矿闪烁体的装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113785222A(43)申请公布日2021.12.10(21)申请号202080027935.2(74)专利代理机构上海胜康律师事务所31263(22)申请日2020.04.10代理人樊英如张静(30)优先权数据(51)Int.Cl.62/831,9922019.04.10USG01T1/202(2006.01)16/843,6992020.04.08US(85)PCT国际申请进入国家阶段日2021.10.11(86)PCT国际申请的申请数据PCT/IB2020/0534522020.04.10(87)PCT国际申请的公布数据WO2020/208606EN2020.10.15(71)申请人迈克尔·萨力巴地址德国斯图加特(72)发明人迈克尔·萨力巴权利要求书2页说明书16页附图13页(54)发明名称低温钙钛矿闪烁体和具有低温钙钛矿闪烁体的装置(57)摘要公开的实施方案包括被配置为在低温下操作的钙钛矿闪烁体、具有被配置为在低温下操作的钙钛矿闪烁体的探测器、具有被配置为在低温下操作的钙钛矿闪烁体的扫描仪、将钙钛矿闪烁体冷却至低温的方法，以及将钙钛矿闪烁体配置为在低温下操作的方法。CN113785222ACN113785222A权利要求书1/2页1.一种装置，其包括：被配置为在低温下操作的钙钛矿闪烁体。2.如权利要求1所述的装置，其中所述钙钛矿闪烁体包括有机‑无机三卤化物钙钛矿(“OTP”)闪烁体。3.如权利要求1所述的装置，其中所述钙钛矿闪烁体的定时分辨率至多为10ps。4.如权利要求3所述的装置，其中所述钙钛矿闪烁体的光产额至少为140000ph/MeV。5.如权利要求3所述的装置，其中所述钙钛矿闪烁体的衰减时间至多为1ns。6.如权利要求1所述的装置，其还包括：被配置为将所述钙钛矿闪烁体冷却至所述低温的冷却系统。7.如权利要求1所述的装置，其中所述低温小于273K。8.如权利要求7所述的装置，其中所述低温在约50和130K之间。9.如权利要求8所述的装置，其中所述低温约为77K。10.如权利要求1所述的装置，其还包括：其中封装有所述钙钛矿闪烁体的封装材料。11.如权利要求1所述的装置，其中所述钙钛矿闪烁体被配置为作为探测器的部分进行操作，所述探测器选自X射线探测器和伽马射线探测器。12.如权利要求1所述的装置，其中所述钙钛矿闪烁体被配置为作为扫描仪的部分来操作，所述扫描仪选自PET扫描仪和CT扫描仪。13.一种探测器，其包括：电离辐射源；至少一个钙钛矿闪烁体，其被配置为由来自所述电离辐射源的电离辐射以第一频率辐照并以低于所述第一频率的第二频率发射对其响应的光子，所述钙钛矿闪烁体还被配置为在低温下操作；冷却系统，其被配置为将所述钙钛矿闪烁体冷却至所述低温；以及光电探测器，其被配置为探测由所述钙钛矿闪烁体发射的光子。14.如权利要求13所述的探测器，其中所述电离辐射源包括选自X射线源和伽马射线源的源。15.一种扫描仪，其包括：钙钛矿闪烁体，其被配置为由成对的伽马光子以第一频率辐照并以低于所述第一频率的第二频率发射对其响应的光子，所述钙钛矿闪烁体还被配置为在低温下操作；冷却系统，其被配置为将所述钙钛矿闪烁体冷却至所述低温；以及光电探测器，其被配置为探测由所述钙钛矿闪烁体发射的光子。16.如权利要求15所述的扫描仪，其中所述光电探测器被配置为被冷却至冷却温度。17.如权利要求16所述的扫描仪，其中所述冷却温度不同于所述低温。18.如权利要求17所述的扫描仪，其中所述冷却温度高于所述低温。19.如权利要求15所述的扫描仪，其中所述光电探测器具有小于1,000ps的重合分辨时间。20.如权利要求19所述的扫描仪，其中所述光电探测器具有小于10ps的重合分辨时间。21.如权利要求15所述的扫描仪，所述扫描仪还包括至少一个非钙钛矿闪烁体，所述至2CN113785222A权利要求书2/2页少一个非钙钛矿闪烁体与所述钙钛矿闪烁体相邻设置并被配置为由来自所述电离辐射源的电离辐射以第一频率辐照并以低于所述第一频率的第二频率发射对其响应的光子，所述光电探测器还被配置为探测由所述非钙钛矿闪烁体发射的光子。22.如权利要求21所述的扫描仪，其中所述非钙钛矿闪烁体包括高原子序数闪烁体。23.如权利要求15所述的扫描仪，其还包括：多个钙钛矿闪烁体；以及多个非钙钛矿闪烁体，所述多个钙钛矿闪烁体中的单个钙钛矿闪烁体与所述多个非钙钛矿闪烁体中的单个非钙钛矿闪烁体相邻设置。24.如权利要求15所述的扫描仪，其中所述扫描仪包括断层显像扫描仪。25.如权利要求24所述的扫描仪，其中所述断层显像扫描仪包括正电子发射断层显像扫描仪。26.如权利要求25所述的扫描仪，其中所述正电子发射断层显像扫描仪