光纤端面检测方法及装置.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114593689A(43)申请公布日2022.06.07(21)申请号202210227629.4G02B13/22(2006.01)(22)申请日2022.03.08G02B27/00(2006.01)(71)申请人深圳迈塔兰斯科技有限公司地址518101广东省深圳市宝安区新安街道上合社区33区大宝路83号美生慧谷科技园秋谷8栋6楼(72)发明人谭凤泽郝成龙朱健(74)专利代理机构深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙)44285专利代理师陈彦如(51)Int.Cl.G01B11/24(2006.01)G01B11/00(2006.01)G02B3/02(2006.01)G02B5/00(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图5页(54)发明名称光纤端面检测方法及装置(57)摘要本公开涉及一种光纤端面检测方法，通过至少一个透镜对来自光纤端面的入射光汇聚，使光纤端面在像面成像；基于所述像面的成像获取光纤端面的图像信息，基于所述图像信息测量光纤参数；其中，在所述至少一个透镜形成的像方焦面阻挡部分光线，使光路中物方主光线的交点位置趋于无限远。本公开同时涉及一种光纤端面测量装置。上述方法或装置，通过在焦平面对光线进行部分阻挡，具备物方远心光学系统的特性。对光纤端面的成像不随距离变化而受影响，可以准确地得到端面的形状和尺寸。还具有边缘清晰的优点，可以准确锁定边缘，得到纤芯的参数。其优选使用了超透镜，还具有体积小的优势，可实现方便快速的测量，同时具备低成本的优点。CN114593689ACN114593689A权利要求书1/2页1.一种光纤端面检测方法，其特征在于，包括：通过至少一个透镜对来自光纤端面的入射光汇聚，使光纤端面在像面成像；基于所述像面的成像获取光纤端面的图像信息，基于所述图像信息测量光纤参数；其中，在所述至少一个透镜的像方焦面处阻挡部分光线，使光路中主光线在物方的交点趋于无限远。2.根据权利要求1所述的光纤端面检测方法，其特征在于，在所述至少一个透镜的像方焦面阻挡部分光线，使平行于光轴的入射光线能够辐射至像面。3.根据权利要求1或2所述的光纤端面检测方法，其特征在于，在所述至少一个透镜的像方焦面处阻挡部分光线借助于孔径光阑来进行。4.根据权利要求1所述的光纤端面检测方法，其特征在于，所述至少一个透镜中，包括一个或多个超透镜；所述超透镜包括基底，以及阵列排布于所述基底表面的结构单元，所述结构单元由周期性排布的纳米结构组成；其中，所述超透镜基于纳米结构的相位分布配置为将入射光线汇聚于焦点。5.根据权利要求1所述的光纤端面检测方法，其特征在于，所述至少一个透镜中，包括一个或多个凸透镜。6.一种光纤端面检测装置，其特征在于，包括：至少一个透镜，用于汇聚来自光纤端面的入射光线，使光纤端面能够在像面成像；图像传感器，设置于所述至少一个透镜的像面，用于根据光纤端面的成像获取光纤端面的图像信息；孔径光阑，设置于所述至少一个透镜的像方焦面，用于阻挡部分光线，使光路中所述透镜的物方主光线的交点位置趋于无限远。7.根据权利要求6所述的光纤端面检测装置，其特征在于，所述至少一个透镜中，包括一个或多个超透镜；所述超透镜包括基底，以及阵列排布于所述基底表面的结构单元，所述结构单元由周期性排布的纳米结构组成；其中，所述超透镜基于纳米结构的相位分布配置为将入射光线汇聚于焦点。8.根据权利要求7所述的光纤端面检测装置，其特征在于，基于所述纳米结构的排布，所述超透镜的光相位满足：其中，(x，y)为纳米结构的相对位置坐标，f为焦距，λ为工作波段波长。9.根据权利要求7所述的光纤端面检测装置，其特征在于，所述结构单元为正六边形或正方形；其中，所述正六边形各顶点和中心位置至少设置有一个纳米结构，所述正方形各顶点和中心位置至少设置有一个纳米结构。10.根据权利要求6所述的光纤端面检测装置，其特征在于，所述至少一个透镜中，包括一个或多个凸透镜。11.根据权利要求6所述的光纤端面检测装置，其特征在于，所述孔径光阑直径为18μm2CN114593689A权利要求书2/2页至23μm。12.根据权利要求6所述的光纤端面检测装置，其特征在于，所述至少一个透镜焦距为30μm至45μm。3CN114593689A说明书1/7页光纤端面检测方法及装置技术领域[0001]本申请属于光纤的生产检测领域，具体涉及一种用于检测光纤端面的方法及其适用的装置。背景技术[0002]光纤的设计、拉制和端面检测是一个闭环的过程，尤其是对于特种光纤来说，设计好对应的结构后，进行光纤预制棒的制作和后续拉制，然后需要对拉制好的光纤进行检测，尤其是端面形状的检测。检测结果不仅可以光纤拉制的过程中，给予工程师实时的反馈，以便于调整拉制参数