显示面板点灯测试治具及测试方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111427174A(43)申请公布日2020.07.17(21)申请号202010306667.X(22)申请日2020.04.17(71)申请人深圳市华星光电半导体显示技术有限公司地址518132广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号(72)发明人张亮(74)专利代理机构深圳紫藤知识产权代理有限公司44570代理人远明(51)Int.Cl.G02F1/13(2006.01)G01M11/02(2006.01)G01R31/26(2014.01)权利要求书1页说明书4页附图3页(54)发明名称显示面板点灯测试治具及测试方法(57)摘要本发明公开一种显示面板点灯测试治具及测试方法，所述显示面板点灯测试治具包括：一台板，用以放置一待测面板；及一压板，与所述台板可开阖地铰接，所述压板包括一观察部及至少一滑块部，所述滑块部位在所述观察部周围，当所述压板与所述台板压合时，所述观察部与所述待测面板的所述显示部重叠，所述滑块部朝向所述台板。CN111427174ACN111427174A权利要求书1/1页1.一种显示面板点灯测试治具，其特征在于：包括：一台板，用以放置一待测面板；及一压板，与所述台板可开阖地铰接，所述压板包括一观察部及至少一滑块部，所述滑块部位在所述观察部周围，当所述压板与所述台板压合时，所述观察部与所述待测面板重叠，所述滑块部朝向所述台板。2.如权利要求1所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：所述观察部具有四边缘，所述四边缘分别沿相互垂直的二方向延伸，所述滑块部的一滑动方向平行所述二方向中的一个。3.如权利要求2所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：所述滑块部包括至少一纵向滑块，所述纵向滑块邻近所述观察部沿一纵向延伸的至少一边缘。4.如权利要求2所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：所述滑块部包括至少一侧向滑块，所述侧向滑块邻近所述观察部沿一侧向延伸的至少一边缘。5.如权利要求2所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：所述滑块部包括至少一纵向滑块及至少一侧向滑块，所述纵向滑块邻近所述观察部沿一纵向延伸的至少一边缘，所述侧向滑块邻近所述观察部沿一侧向延伸的至少一边缘。6.如权利要求3或5所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：所述至少一纵向滑块包括一第一纵向滑块及一第二纵向滑块，所述第一纵向滑块邻近所述观察部沿所述纵向延伸的二边缘中的一边缘，所述第二纵向滑块邻近所述观察部沿所述纵向延伸的二边缘中的另一边缘。7.如权利要求4或5所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：所述至少一侧向滑块包括一第一侧向滑块，所述第一侧向滑块邻近所述观察部沿所述侧向延伸的二边缘中的一边缘。8.如权利要求1所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：还包括至少一光学透镜，所述光学透镜设于所述压板。9.如权利要求1所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：所述滑块部为一滑轮组件或一滑轨组件。10.一种显示面板点灯测试方法，应用如权利要求1至9任一项所述的显示面板点灯测试治具，其特征在于：所述方法包括步骤：放置一待测面板在所述显示面板点灯测试治具的所述台板；压合所述显示面板点灯测试治具的所述压板与所述台板，使所述观察部与所述待测面板重叠，且所述滑块部朝向所述台板；及滑动所述滑块部，使所述待测面板与所述压板相对地线性移动。2CN111427174A说明书1/4页显示面板点灯测试治具及测试方法技术领域[0001]本发明是有关于一种测试治具及测试方法，特别是有关于一种显示面板点灯测试治具及测试方法。背景技术[0002]显示面板(panel，例如OLED和LCD)在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个重要检验程序就是对切割完成的面板进行测试(CellTest)，确认面板是否存在缺陷。[0003]以LCD面板为例，测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-onTest)。以OLED面板为例，大都采用单台的现有点灯治具进行点灯测试，如图1及图2所示，现有点灯治具9主要由一台板91和一压板92构成，当所述压板92下压所述台板91上的一待测面板8后，所述压板92上的顶针与待测面板8电性连接，从而点亮所述待测面板8。[0004]如图2所示，在点亮进行观察时，所述压板92的观察部921边缘距离所述待测面板8边缘很近，当需要观察所述待测面板8边缘的发光现象时，由于观测设备不能平放，无法正常查看所述待测面板8边缘像素的缺陷。[0005]因此，现有技术存在缺陷，急需改进。发明内容[0006]本发明提供一种显示面板点灯测试治具及测试方法，以解决现有技术所存在的面板边缘像素缺陷无法正常查看的问题。[00