检测装置和图像形成装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN103713488103713488A(43)申请公布日2014.04.09(21)申请号201310073130.3(22)申请日2013.03.07(30)优先权数据2012-2168032012.09.28JP(71)申请人富士施乐株式会社地址日本东京都(72)发明人尾形健太山崎直哉中岛玄(74)专利代理机构北京三友知识产权代理有限公司11127代理人李辉黄纶伟(51)Int.Cl.G03G15/00(2006.01)权权利要求书2页利要求书2页说明书9页说明书9页附图6页附图6页(54)发明名称检测装置和图像形成装置(57)摘要本发明提供了一种检测装置和图像形成装置。该检测装置包括：照射单元，其利用第一照射光照射介质；第一光学系统，其具有第一入射表面并且将第一照射光改变为第二照射光；第二光学系统，其具有第二入射表面并且将第一照射光改变为第三照射光；以及光接收单元，其设置在第二照射光和第三照射光的由介质镜面反射的反射光的行进方向上并且接收第二照射光和第三照射光的由介质镜面反射的反射光，以检测形成在介质上的图像的位置偏差量并且检测形成在介质上的图像的浓度偏差量。CN103713488ACN103748ACN103713488A权利要求书1/2页1.一种检测装置，所述检测装置包括：照射单元，所述照射单元利用第一照射光照射介质；第一光学系统，所述第一光学系统具有基本上环形的供所述第一照射光入射的第一入射表面，并且将从该第一入射表面入射的所述第一照射光改变为第二照射光，所述第二照射光在到达所述介质时形成的直径小于或等于当所述第一照射光入射在所述第一入射表面上时形成的直径；第二光学系统，所述第二光学系统具有由所述第一入射表面围绕的供所述第一照射光入射的第二入射表面，并且将从对应的第二入射表面入射的所述第一照射光改变为第三照射光，所述第三照射光在到达所述介质时形成的直径小于当所述第一照射光入射在所述第二入射表面上时形成的直径；以及光接收单元，所述光接收单元设置在所述第二照射光和所述第三照射光的由所述介质镜面反射的反射光的行进方向上，并且接收所述第二照射光和所述第三照射光的由所述介质镜面反射的反射光，以检测形成在所述介质上的图像的位置偏差量，并且检测形成在所述介质上的图像的浓度偏差量。2.一种检测装置，所述检测装置包括：照射单元，所述照射单元利用第一照射光照射介质；第一光学系统，所述第一光学系统供所述第一照射光入射的第一入射表面，并且将从对应的第一入射表面入射的所述第一照射光改变为第二照射光，所述第二照射光在到达所述介质时形成的直径小于或等于当所述第一照射光入射在所述第一入射表面上时形成的直径；第二光学系统，所述第二光学系统是设置在从所述第一光学系统到所述介质的范围中的光学系统，具有供所述第二照射光的一部分入射的第二入射表面，并且将从对应的第二入射表面入射的光改变为第三照射光，所述第三照射光在到达所述介质时形成的直径小于当所述光入射在所述第二入射表面上时形成的直径；以及光接收单元，所述光接收单元设置在所述第二照射光和所述第三照射光的由所述介质镜面反射的反射光的行进方向上，并且接收所述第二照射光和所述第三照射光的由所述介质镜面反射的反射光，以检测形成在所述介质上的图像的位置偏差量，并且检测形成在所述介质上的图像的浓度偏差量。3.一种检测装置，所述检测装置包括：照射单元，所述照射单元利用第一照射光照射介质；第一光学系统，所述第一光学系统具有供所述第一照射光入射的第一入射表面，并且将从该第一入射表面入射的所述第一照射光改变为第二照射光，所述第二照射光在到达所述介质时形成的直径小于或等于当所述第一照射光入射在所述第一入射表面上时形成的直径；第二光学系统，所述第二光学系统具有供所述第二照射光的由所述介质镜面反射的反射光的一部分光入射的第二入射表面，聚集从该第二入射表面入射的所述光，并且将所述光改变为第三照射光；以及光接收单元，所述光接收单元设置在所述反射光和所述第三照射光的照射方向上，并且接收该反射光和该第三照射光，以检测形成在所述介质上的图像的位置偏差量，并且检2CN103713488A权利要求书2/2页测形成在所述介质上的图像的浓度偏差量，其中，所述第三照射光在到达所述光接收单元时形成的直径小于当所述光入射在所述第二入射表面上时形成的直径。4.一种图像形成装置，所述图像形成装置包括：权利要求1至3中的任一项所述的检测装置；以及图像形成单元，所述图像形成单元在所述介质上形成图像，其中，所述图像形成单元基于由所述光接收单元检测到的所述位置偏差量来调整形成在所述介质上的所述图像的位置，并且基于由所述光接收单元检测到的所述浓度偏差量来调整形成在所述介