minitab案例讲解.pdf

M--测量系统分析：连续型案例：gageaiag.Mtw背景：3名测定者对10部品反复2次TEST－>测量值随部品的变动所有点落在管理界限内－>良好－>测量值随OP的变动大部分点落在管理界限外－>主变动原因：部品变动－>良好－>对于部品10OP有较大分歧；M--测量系统分析：离散型案例（名目型）：gage名目.Mtw背景：3名测定者对30部品反复2次TEST检查者1需要再教育；检查者3需要追加训练；(反复性)个人与标准的一致性（再现性？）两数据不能相差较大否则说明检查者一致的判定与标准有一定差异M--测量系统分析：离散型案例（顺序型）：散文.Mtw背景：3名测定者对30部品反复2次TEST张四需要再教育；张一、张五需要追加训练；(反复性)两数据不能相差较大否则说明检查者一致的判定与标准有一定差异M--正态性测定:(测定工序能力的前提)案例：背景：3名测定者对10部品反复2次TESTP-value>0.05－>正态分布（P越大越好）本例：P＝0.022数据不服从正态分布。原因：1、Data分层混杂；2、群间变动大；M--工序能力分析（连续型）：案例：Camshaft.MTW①工程能力统计：短期工序能力长期工序能力X平均＝目标值－>Cp＝CpmX平均≠目标值－>Cp>Cpm②求解Zst（输入历史均值）：历史均值：表示强行将它拉到中心位置－>不考虑偏移－>Zst(Bench)③求解Zlt（无历史均值）：无历史均值：－>考虑偏移－>Zlt(Bench)*Zshift＝Zlt(Bench)－Zlt(Bench)＝12.13－1.82＝0.31工序能力分析：案例：Camshaft.MTW另：capabilitysixpack工具M--工序能力分析（离散型）：案例：bpcapa.MTW(1)：二项分布的Zst缺陷率：不良率是否受样本大小影响？－平均（预想）PPM＝226427－Zlt＝0.75＝>Zst＝Zlt＋1.5＝2.25M--工序能力分析（离散型）：案例：bpcapa.MTW(2)：Poisson分布的ZstA—Graph（坐标图）：案例：Pulse.MTW(1)Histograpm（直方图）－单变量通过形态确认：－正规分布有无；－异常点有无；(2)Plot（散点图）－X、Y双变量通过形态确认：