SSD异常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质.pdf
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SSD异常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质.pdf
本发明涉及SSD异常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质;其中,方法,包括:将U盘格式化为一个FAT32分区,并在FAT32分区创建一个二级目录\EFI\Boot;将引导文件BOOTX64.EFI及startup.nsh脚本写入至目录\EFI\Boot下;将U盘和待测SSD与测试机连接;运行startup.nsh脚本;进入startup.nsh脚本对待测SSD所映射的驱动器;等待预设的时间,对测试机中的测试系统进行异常掉电并上电;判断是否能进入待测SSD所映射的驱动器。本发明实现了对任意测试机进行异
单盘SSD异常掉电测试方法、装置和计算机设备.pdf
本申请涉及一种单盘SSD异常掉电测试方法、装置、计算机设备和存储介质,其中该方法包括:获取单盘SSD异常掉电测试请求;根据所述单盘SSD异常掉电测试请求建立与存储服务器的网络连接;通过获取所述存储服务器的IP地址以及登录账户登录到所述存储服务器;登录成功后将异常掉电测试脚本和FIO测试脚本导入所述存储服务器并添加相应的执行权限;同时执行所述异常掉电测试脚本和FIO测试脚本,对待测SSD进行混合读写下的单盘异常掉电测试。本发明实现了对SSD在混合读写场景下进行任意强度异常掉电的自动化测试,无需购买额外的软件
芯片内部SRAM测试方法、装置、存储介质及SSD设备.pdf
本发明涉及数据存储技术领域,提供了一种芯片内部SRAM测试方法、装置、存储介质及SSD设备,该方法包括:将芯片固件运行的物理地址区域重映射到芯片内部的静态随机存取存储器SRAM以外的物理地址区域;接收到测试机发送的开始测试指令时,清空所述SRAM中的数据;将待测试数据写入所述SRAM中的目标测试地址,并在数据写入后对所述SRAM进行可靠性校验。本发明能够在芯片正常工作状态下实现对芯片内部SRAM区域的全区域可靠性测试,弥补芯片内部SRAM从出厂到产品生产过程中可能存在的测试盲点,测试结果准确,测试强度大,
SSD访问加速方法、装置、计算机设备及存储介质.pdf
本申请涉及一种SSD访问加速方法、装置、计算机设备及存储介质,其中该方法包括:将SSD内部物理区域进行划分,包括写缓冲区、读缓冲区及主存储区;在写缓冲区和读缓冲区中采用Enhance模式存储数据,在所述主存储区中采用Normal模式存储数据;定义主机交互命令,用于将指定区域的数据从所述主存储区搬移至所述读缓冲区;主机根据访问需求,通过发送相应的主机交互命令将经常访问的数据加载到所述读缓冲区中以提升后续的读取性能。本发明保留了SLC读缓冲区域,并定义了一种主机命令接口,通过该命令主机可以指定一些经常读取的数
SSD修复方法、装置、计算机设备及存储介质.pdf
本发明涉及SSD修复方法、装置、计算机设备及存储介质;其中,方法,包括:在SSD中创建隐藏区;当用户数据区可用物理块的数量为0时,启动记录修复;废弃当前映射表,重建映射表;从隐藏区分配空白物理块,标记为目的物理块;选择用户数据区的数据块,标记为源物理块;将源物理块中的有效数据搬移至目的物理块;判断源物理块中的有效数据是否搬完;判断目的物理块是否写满;判断当前可用物理块的数量是否大于等于隐藏区可用保留物理块数量加1;将当前可用物理块中保留一定量的物理块到隐藏区。本发明通过创建隐藏区,保留一定的空白物理块,当