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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN104615550A(43)申请公布日2015.05.13(21)申请号201510041961.1(22)申请日2015.01.27(71)申请人华为技术有限公司地址518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼(72)发明人辜多艮(74)专利代理机构北京中博世达专利商标代理有限公司11274代理人申健(51)Int.Cl.G06F12/12(2006.01)权利要求书2页说明书11页附图4页(54)发明名称一种存储设备坏块的处理方法、装置及存储设备(57)摘要本发明公开了一种存储设备坏块的处理方法、装置及存储设备,涉及通信终端领域,用于解决存储设备的使用过程中,IOPS稳定性差的问题。本发明提供的具体实施例应用于存储设备,且存储设备配置有:用户数据区、超供区、预留区,其中用户数据区和超供区用于实际存储用户数据,预留区包括预留块;当用户数据区出现坏块时,检测坏块类型,并为坏块在预留区中申请替换预留块,进而按照坏块类型,将申请到的替换预留块替换掉这一坏块。本发明提供的技术方案适用于存储设备对坏块的处理流程中。CN104615550ACN104615550A权利要求书1/2页1.一种存储设备坏块的处理方法,所述方法应用于存储设备,其特征在于,所述存储设备配置有:用户数据区、超供区、预留区,所述用户数据区用于存储用户数据,所述超供区用于为所述用户数据提供缓存,所述预留区包括预留块;所述方法包括:当所述用户数据区出现坏块时,检测所述坏块的坏块类型,所述坏块类型包括:读写坏块和擦失败坏块;在所述预留区中为所述坏块申请替换预留块,所述替换预留块与所述坏块大小相同;按照所述坏块的坏块类型,用所述替换预留块替换所述坏块。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述坏块的坏块类型为所述读写坏块时,所述用所述替换预留块替换所述坏块包括:将所述坏块中的数据写入所述替换预留块,并将所述替换预留块的标记修改为所述坏块的标记;将所述坏块的标记修改为隔离标记。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述坏块为存储有效数据的健康块,所述坏块的标记为健康标记,所述健康标记用于表示所述坏块的健康等级,所述健康块为所述存储设备中块类型的一种。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述坏块的坏块类型为所述擦失败坏块时,所述用所述替换预留块替换所述坏块包括:将所述替换预留块的标记修改为空白标记;将所述坏块的标记修改为隔离标记。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述坏块为待回收块。6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法,其特征在于,所述超供区在所述存储设备使用中保持存储空间不变,所述预留区根据所述存储设备在使用中产生的坏块数量决定存储空间。7.一种存储设备坏块的处理装置,其特征在于,所述装置应用于存储设备,所述存储设备配置有:用户数据区、超供区、预留区,所述用户数据区用于存储用户数据,所述超供区用于为所述用户数据提供缓存,所述预留区包括预留块;所述装置包括:检测单元,用于当所述用户数据区出现坏块时,检测所述坏块的坏块类型,所述坏块类型包括:读写坏块和擦失败坏块;申请单元,用于在所述预留区中为所述坏块申请替换预留块,所述替换预留块与所述坏块大小相同;替换单元,用于按照所述检测单元检测出的所述坏块的坏块类型,用所述申请单元申请到的所述替换预留块替换所述坏块。8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,当所述检测单元检测到所述坏块所属的坏块类型为所述读写坏块时,所述替换单元包括:数据写入模块,用于将所述坏块中的数据写入所述替换预留块;第一修改模块,用于修改申请到的所述替换预留块的标记为所述坏块的标记;还用于将所述坏块的标记替换为所述隔离标记。2CN104615550A权利要求书2/2页9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述坏块为存储有效数据的健康块,所述坏块的标记为健康标记,所述健康标记用于表示所述坏块的健康等级,所述健康块为所述存储设备中块类型的一种。10.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,当所述检测单元检测到所述坏块所属的坏块类型为所述擦失败坏块时,所述替换单元包括:第二修改模块,用于将申请到的所述替换预留块的标记修改为空白标记;还用于将所述坏块的标记修改为所述隔离标记。11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述坏块为待回收块。12.根据权利要求7-11任意一种所述的装置,其特征在于,所述超供区在所述存储设备使用中保持存储空间不变,所述预留区根据所述存储设备在使用中产生的坏块数量决定存储空间。13.一种存储设备,其特征在于,所述存储设备包括存储器和处理器,所述存储器中配置有:用户数据区、超供区、预留区,所述用户数据区用于存储用户数据,所述超供区用于为所