恢复厌氧氨氧化菌活性的方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106544295A(43)申请公布日2017.03.29(21)申请号201610917734.5(22)申请日2016.10.20(71)申请人北京交通大学地址100044北京市海淀区西直门外上园村3号(72)发明人姚宏马金元左陆珅(74)专利代理机构北京市商泰律师事务所11255代理人黄晓军(51)Int.Cl.C12N1/20(2006.01)C02F3/28(2006.01)C02F3/34(2006.01)C12R1/01(2006.01)权利要求书1页说明书6页附图1页(54)发明名称恢复厌氧氨氧化菌活性的方法(57)摘要本发明提供了一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法。该方法包括：将活性受损的厌氧氨氧化菌投入到厌氧反应器中，向所述厌氧反应器中添加模拟废水，用氮气吹脱所述厌氧反应器；向所述厌氧反应器中添加联氨，使所述厌氧反应器中联氨的浓度达到设定数值；按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌。本发明的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法能将滞留在厌氧氨氧化菌体内的有毒有害物质给清洗出来，避免了这些物质对厌氧氨氧化菌的持续抑制。并且通过向厌氧氨氧化体系中添加联氨，为厌氧氨氧化体系提供了一定量的可利用的电子，能强化厌氧氨氧化菌脱氮各个过程，使受损菌种的活性快速恢复。CN106544295ACN106544295A权利要求书1/1页1.一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法，其特征在于，包括：将活性受损的厌氧氨氧化菌投入到厌氧反应器中，向所述厌氧反应器中添加模拟废水，用氮气吹脱所述厌氧反应器；向所述厌氧反应器中添加联氨，使所述厌氧反应器中联氨的浓度达到设定数值；按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌。2.根据权利要求1所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法，其特征在于，所述的将活性受损的厌氧氨氧化菌投入到厌氧反应器中，向所述厌氧反应器中添加模拟废水，用氮气吹脱所述厌氧反应器，包括：取出活性受损的厌氧氨氧化菌，将所述厌氧氨氧化菌用模拟废水冲洗设定次数后添加到厌氧反应器中；向所述厌氧反应器中添加无基质的模拟废水，搅拌，使受损的厌氧氨氧化菌在无基质的模拟废水中处于悬浮状态，静置设定时间后，排除所述厌氧反应器中的上清液，所述无基质的模拟废水为不添加NO2--N和的模拟废水；向所述厌氧反应器中重新添加新配置的模拟废水，用氮气吹脱所述厌氧反应器设定时间。3.根据权利要求1所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法，其特征在于，所述反应器为续批式反应器SBR或者上流式厌氧反应器UASB。4.根据权利要求1所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法，其特征在于，所述厌氧氨氧化菌为厌氧氨氧化菌混合培养物或者厌氧氨氧化菌颗粒污泥。5.根据权利要求1所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法，其特征在于，所述模拟废水包括：0.01g/L的KH2PO4、0.0056g/L的CaCl2·2H2O、1.25g/L的KHCO3、0.3g/L的MgSO4·7H2O、微量元素Ⅰ和Ⅱ各1.25mL/L，进水NO2--N浓度为100～120mg/L，进水浓度为80～100mg/L。6.根据权利要求5所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法，其特征在于，所述的按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌，包括：所述微量元素Ⅰ组成为：EDTA，5g/L和FeSO4，5g/L；所述述微量元素Ⅱ组成为：EDTA，15g/L；ZnSO4·7H2O，0.43g/l；CoC12·6H2O，0.24g/l；MnCl2·4H2O，0.99g/l；CuSO4·5H2O，0.25g/l；NaMoO4·2H2O，0.22g/l；NiC12·6H2O,0.19g/l；NaSeO410H2O,0.21g/l；H3BO4，0.014g/l。7.根据权利要求1至6任一项所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法，其特征在于，所述的按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌，包括：所述设定培养条件包括：温度32～35℃，pH为7.5～8.0，溶解氧DO<0.1mg/l，进水氨氮在80～100mg/l，进水亚硝氮为100～120mg/l，待所述厌氧反应器中的模拟废水中NO2--N浓度低于20mg/l或者NO2--N浓度低于10mg/l后，排出所述厌氧反应器中的上清液，继续向所述厌氧反应器中添加模拟废水和联氨，使厌氧反应器中联氨浓度达到0.2～1.0mM后；按照上述处理过程开始下一周期的厌氧氨氧化菌的培养，直至受损的厌氧氨氧化菌活性完全恢复。2CN106544295A说明书1/6页恢复厌氧氨氧化菌活性的方法技术领域[0001]本发明涉及环境微生物领域，具体涉及一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法。背景技术[0002]厌氧氨氧化菌作为浮霉菌门