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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111044855A(43)申请公布日2020.04.21(21)申请号201911272813.5(22)申请日2019.12.12(71)申请人北京无线电计量测试研究所地址100854北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱(72)发明人石岩王慧峰于德江张力敏屈晓松(74)专利代理机构北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315代理人李潇(51)Int.Cl.G01R31/12(2006.01)G01R27/02(2006.01)G01R1/04(2006.01)权利要求书1页说明书5页附图2页(54)发明名称一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法(57)摘要本申请公开了一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法,所述装置包括壳体、射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座。所述电缆一端与所述射频同轴连接器连接,另一端电缆芯线与所述高压插座连接,屏蔽层与所述接地插座连接。所述壳体用于封装所述射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座,预留射频同轴连接器、高压插座和接地插座接口在壳体外部。本申请还包含用所述装置进行测试的方法。本申请的方案测试效率高,安全性强。CN111044855ACN111044855A权利要求书1/1页1.一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置,其特征在于,包括壳体、射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座;所述电缆一端与所述射频同轴连接器连接,另一端电缆芯线与所述高压插座连接,屏蔽层与所述接地插座连接;所述壳体用于封装所述射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座,预留射频同轴连接器、高压插座和接地插座接口在壳体外部。2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述壳体为绝缘材料。3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述射频同轴连接器为N/N-KFK、N/BNC-KFK或N/SMA-KFK。4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述射频同轴连接器与所述壳体采用法兰固定。5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述接地插座与所述壳体采用穿墙法兰固定。6.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述高压插座与所述壳体采用穿墙法兰固定。7.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述电缆芯线与高压插座连接、屏蔽层与接地插座连接采用焊接。8.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述壳体为立方体,固定射频同轴连接器、高压插座和接地插座的壳体面为绝缘材料,其余壳体面为铝板。9.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述绝缘材料为聚四氟乙烯。10.一种射频同轴连接器绝缘耐压测试方法,其特征在于,使用权利要求1~9任意一项所述的测试装置,包括以下步骤:连接待测试射频同轴连接器至测试装置的射频同轴连接器接口;连接绝缘耐压测试仪的高压插头和测试装置的高压插座;连接绝缘耐压测试仪的接地插头和测试装置的接地插座;通过绝缘耐压测试仪读取绝缘电阻和介质耐电压。2CN111044855A说明书1/5页一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法技术领域[0001]本申请涉及测试技术领域,尤其涉及一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法。背景技术[0002]射频同轴连接器性能中,介质耐电压和绝缘电阻是保证连接器可靠工作的最基本的电气参数。介质耐压是在相互绝缘的部件之间或绝缘的部件与地之间,在规定时间内施加规定电压,以此来确定元件在额定电压下能否完全工作,能否耐受由于开关、浪涌及其他类似现象所导致的过电位的能力,从而评定元件绝缘材料或绝缘间隙是否合适。[0003]绝缘电阻测试是测量元件绝缘部分,在外加规定的直流电压下,由于绝缘不完善产生漏电流而形成的电阻。确定元件的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温,潮湿等环境应力时,其绝缘电阻是否符合有关标准的规定。[0004]目前,绝缘电阻和介质耐压测试时,应用绝缘耐压测试仪,在连接器的中心接触件与外导体之间瞬时施加交流电压。具体操作为从绝缘耐压测试仪接出两根插头,一根接地插头和一根高压接头,将高压接头和接地接头分别放置在连接器外导体和从内导体引出的探针上,然后在仪器上设置绝缘电阻值,电压有效值,测试时间,漏电流等参数进行测试。这种测试方法,被测射频连接器内导体和高压接头接触需要从内导体引入一个探针工装,高压接头裸露在外面,不仅测试效率较低,且有一定的安全隐患。发明内容[0005]本申请提出一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置和方法,解决测试效率低、测试存在安全隐患的问题。[0006]一方面,本申请的实施例提出一种射频同轴连接器绝缘耐压测试装置,包括壳体、射频同轴连接器、电缆、高压插座和接地插座;所述电缆一端与所述射频同轴连接器连接,另一端电缆芯线与所述高压插座连接,屏蔽层与所述接地插座连