RFID标签芯片和RFID标签芯片的校验方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111950680A(43)申请公布日2020.11.17(21)申请号202010642849.4(22)申请日2020.07.06(71)申请人智汇芯联（厦门）微电子有限公司地址361000福建省厦门市软件园二期观日路34号201室J单元(72)发明人王学先(74)专利代理机构厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙)35227代理人吴圳添(51)Int.Cl.G06K19/077(2006.01)G06K19/10(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图2页(54)发明名称RFID标签芯片和RFID标签芯片的校验方法(57)摘要RFID标签芯片和RFID标签芯片的校验方法。所述RFID标签芯片包括存储器，所述存储器包括保留区、电子产品代码区、标签识别区和用户区，所述标签识别区存储有标签识别值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述标签识别值的校验码。所述RFID标签芯片能够进行相应的检验，使用户及时确认RFID标签芯片是否可用。CN111950680ACN111950680A权利要求书1/2页1.一种RFID标签芯片，包括存储器，所述存储器包括保留区、电子产品代码区、标签识别区和用户区，所述标签识别区存储有标签识别值，其特征在于：所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述标签识别值的校验码。2.如权利要求1所述的RFID标签芯片，其特征在于，还包括以下三种存储结构的至少其中之一：第一种，所述电子产品代码区存储有电子产品代码值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述电子产品代码值的校验码；第二种，所述用户区存储有用户信息值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述用户信息值的校验码；第三种，所述保留区存储有灭活口令值和访问口令值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述灭活口令值和访问口令值的校验码。3.一种RFID标签芯片，包括存储器，所述存储器包括保留区、电子产品代码区、标签识别区和用户区，所述标签识别区存储有标签识别值，其特征在于，包括以下三种存储结构的至少其中之一：第一种，所述电子产品代码区存储有电子产品代码值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述电子产品代码值的校验码；第二种，所述用户区存储有用户信息值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述用户信息值的校验码；第三种，所述保留区存储有灭活口令值和访问口令值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述灭活口令值和访问口令值的校验码。4.如权利要求1至3任意一项所述的RFID标签芯片，其特征在于，当所述电子产品代码区、保留区和用户区中存在一个空置区时，所述空置区中存储有所述校验码；当所述电子产品代码区、保留区和用户区中存在两个以上空置区时，至少其中一个所述空置区中存储有所述校验码；当所述电子产品代码区、保留区和用户区均为非空置区时，各个所述非空置区存储有各区各相应值对应的各个所述校验码。5.如权利要求1至3任意一项所述的RFID标签芯片，其特征在于，所述校验码为各个相应值的奇偶校验码或者循环校验码；或者，所述检验码为各个相应值的前向纠错码。6.一种RFID标签芯片的校验方法，所述RFID标签芯片包括存储器，所述存储器包括保留区、电子产品代码区、标签识别区和用户区，所述标签识别区存储有标签识别值，其特征在于，所述校验方法包括：所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述标签识别值的校验码；在读取所述标签识别值时，利用所述校验码对所述标签识别值进行校验。7.如权利要求6所述的RFID标签芯片的校验方法，其特征在于，还包括以下三种步骤的至少其中之一：第一种，在所述电子产品代码区存储电子产品代码值，在所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储所述电子产品代码值的校验码；在读取所述电子产品代码值时，利用所述校验码对所述电子产品代码值进行校验；第二种，在所述用户区存储用户信息值，在所述电子产品代码区、保留区和用户区的其2CN111950680A权利要求书2/2页中一个区域，存储所述用户信息值的校验码；在读取所述用户信息值时，利用所述校验码对所述用户信息值进行校验；第三种，在所述保留区存储灭活口令值和访问口令值，在所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储所述灭活口令值和访问口令值的校验码；在读取所述存储灭活口令值和访问口令值时，利用所述校验码对所述存储灭活口令值和访问口令值进行校验。8.一种RFID标签芯片的校验方法，所述RFID标签芯片包括存储器，所述存储器包括保留区、电子产品代码区、标签识