磁共振成像方法、装置和系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113281691A(43)申请公布日2021.08.20(21)申请号202010102916.3(22)申请日2020.02.19(71)申请人上海联影医疗科技股份有限公司地址201807上海市嘉定区城北路2258号(72)发明人翟人宽(74)专利代理机构北京华进京联知识产权代理有限公司11606代理人张书涛(51)Int.Cl.G01R33/56(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图5页(54)发明名称磁共振成像方法、装置和系统(57)摘要本申请涉及一种磁共振成像方法、装置和系统。磁共振成像方法通过对欠采样K空间数据进行共轭对称处理，得到欠采样共轭K空间数据。根据欠采样K空间数据和欠采样共轭K空间数据的共有区域计算得到欠采样K空间数据和欠采样共轭K空间数据之间的映射矩阵，并利用映射矩阵对欠采样共轭K空间数据进行恢复，得到拟合K空间数据。根据欠采样K空间数据和恢复K空间数据即可实现对K空间及磁共振图像的重建。该方法无需估算相位，仅采用现有数据投影映射即可对欠采样数据进行恢复，具有较好的鲁棒性。磁共振成像方法恢复的满采样K空间数据中保留了相位信息，故其可以更加灵活地与其它的加速方法及其它应用技术混合使用，扩大了应用范围。CN113281691ACN113281691A权利要求书1/2页1.一种磁共振成像方法，其特征在于，包括：采用欠采样方法采集待检测区域的磁共振信号，并将所述磁共振信号填充至K空间，得到欠采样K空间数据；对所述欠采样K空间数据进行共轭对称处理，得到欠采样共轭K空间数据；确定所述欠采样K空间数据和所述欠采样共轭K空间数据的共有区域；对所述共有区域进行投影映射，计算所述欠采样K空间数据和所述欠采样共轭K空间数据之间的映射矩阵；采用所述映射矩阵对所述欠采样共轭K空间数据进行映射，得到拟合K空间数据；根据所述欠采样K空间数据和所述拟合K空间数据对所述K空间进行重建，得到满采样K空间数据；以及将所述满采样K空间数据变换至图像域，得到所述待检测区域的磁共振图像。2.根据权利要求1所述的磁共振成像方法，其特征在于，所述对所述共有区域进行投影映射，计算所述欠采样K空间数据和所述欠采样共轭K空间数据之间的映射矩阵之前，包括：根据所述磁共振信号的类型的相位变化程度，确定所述映射矩阵的大小。3.根据权利要求1所述的磁共振成像方法，其特征在于，所述根据所述欠采样K空间数据和所述拟合K空间数据对所述K空间进行重建，得到满采样K空间数据，包括：根据所述欠采样K空间数据和所述拟合K空间数据，确定所述欠采样K空间数据的加权系数空间和所述拟合K空间数据的加权系数空间；根据所述欠采样K空间数据和所述拟合K空间数据，以及所述欠采样K空间数据的加权系数空间和所述拟合K空间数据的加权系数空间，对所述K空间进行重建，得到满采样K空间数据。4.根据权利要求1所述的磁共振成像方法，其特征在于，所述采用欠采样方法采集磁共振信号，并将所述磁共振信号填充至K空间，得到欠采样K空间数据，包括：采用部分傅里叶欠采样方法和并行成像方法采集所述磁共振信号，并将所述磁共振信号填充至所述K空间，得到初始欠采样K空间数据，所述磁共振信号的采集频率小于奈奎斯特速率，其中所述初始欠采样K空间数据包括第一区域和第二区域，所述第一区域未被填充，所述第二区域的部分位置被填充；对所述第二区域中未被填充的位置所对应的数据点进行恢复，以获取所述欠采样K空间数据。5.一种磁共振成像装置，其特征在于，包括：采集单元，用于采用欠采样方法采集待检测区域的磁共振信号，并将所述磁共振信号填充至K空间，得到欠采样K空间数据；共轭处理单元，与所述采集单元连接，用于对所述欠采样K空间数据进行共轭对称处理，得到欠采样共轭K空间数据；区域划分单元，与所述共轭处理单元和所述采集单元分别连接，用于确定所述欠采样K空间数据和所述欠采样共轭K空间数据的共有区域；映射矩阵计算单元，与所述区域划分单元连接，用于对所述共有区域进行投影映射，计算所述欠采样K空间数据和所述欠采样共轭K空间数据之间的映射矩阵；K空间恢复单元，与所述共轭处理单元和所述映射矩阵计算单元分别连接，用于采用所2CN113281691A权利要求书2/2页述映射矩阵对所述欠采样共轭K空间数据进行映射，得到拟合K空间数据；K空间重建单元，与所述采集单元和所述K空间恢复单元分别连接，用于根据所述欠采样K空间数据和所述拟合K空间数据对所述K空间进行重建，得到满采样K空间数据；磁共振图像重建单元，与所述K空间重建单元连接，用于将所述满采样K空间数据变换至图像域，得到所述待检测区域的磁共振图像。6.根据权利要求5所述的磁共振成像装置，其特征在于，还包括：矩阵大小确定单元，与所述映射矩阵