一种同轴度校准工具和同轴度校准方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113758405A(43)申请公布日2021.12.07(21)申请号202111048266.X(22)申请日2021.09.08(71)申请人深圳市科曼医疗设备有限公司地址518000广东省深圳市光明区马田街道南环大道飞亚达钟表大厦1A栋10-11层、12C，2栋1-5层(72)发明人卜亚洲肖春辉(51)Int.Cl.G01B5/252(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图3页(54)发明名称一种同轴度校准工具和同轴度校准方法(57)摘要一种同轴度校准工具和同轴度校准方法。同轴度校准工具包括芯轴、套轴和弹性复位件，套轴上设有内腔，芯轴与套轴内腔滑动配合，芯轴的前端和套轴的后端设有抵接部，弹性复位件作用于芯轴上，驱动芯轴复位。由于同轴度校准工具长度可伸缩，使得其在伸缩行程的范围内，可校准不同长度的产品，大大提高工具的适用范围和使用效率，同时其两端采用抵接部，与被校准产品件不留配合间隙，提高校准精度。CN113758405ACN113758405A权利要求书1/1页1.一种同轴度校准工具，其特征在于，包括：芯轴、套轴和弹性复位件；所述套轴上设有内腔，所述芯轴与所述套轴的内腔配合，所述芯轴能在所述套轴的内腔中滑动，以校准不同尺寸的产品；所述芯轴的前端具有第一抵接部，所述套轴的后端具有第二抵接部，所述第一抵接部和所述第二抵接部用于与被校准产品配合；所述弹性复位件作用于所述芯轴上，用于驱动所述芯轴复位。2.如权利要求1所述的同轴度校准工具，其特征在于，所述第一抵接部为锥孔面或锥台。3.如权利要求1所述的同轴度校准工具，其特征在于，所述第二抵接部为锥孔面或锥台。4.如权利要求1所述的同轴度校准工具，其特征在于，所述芯轴为阶梯轴，其包括第一轴段、第二轴段和第三轴段，所述第二轴段的轴径大于所述第一轴段的轴径和所述第三轴段的轴径；所述第二轴段与所述套轴的内腔配合，所述第二轴段能在所述套轴的内腔中滑动；所述第一抵接部设于所述第一轴段的前端，所述第一抵接部用于与被校准产品配合。5.如权利要求4所述的同轴度校准工具，其特征在于，还包括：挡板；所述挡板安装在所述套轴的前端，用于防止所述芯轴滑出所述套轴的内腔；所述挡板上设有通孔，所述第一轴段从所述通孔中穿出；所述第二轴段位于所述套轴的内腔中，所述第二轴段的外径大于所述通孔的孔径，以防止所述第二轴段从所述套轴的内腔中脱离。6.如权利要求5所述的同轴度校准工具，其特征在于，所述挡板与所述套轴螺纹连接。7.如权利要求5所述的同轴度校准工具，其特征在于，所述弹性复位件为压缩弹簧；所述压缩弹簧套设在所述第三轴段上；所述芯轴向所述套轴的内腔内滑动时，所述压缩弹簧被压缩，反之，所述压缩弹簧回弹使所述芯轴复位。8.如权利要求7所述的同轴度校准工具，其特征在于，所述第一抵接部和所述第二抵接部的同轴度L通过如下计算式计算获得：L＝L1+L4+(H1/H2+0.2)*L2；式中，L1为所述第二抵接部与所述套轴的内腔的同轴度；L2为所述芯轴和所述套轴的配合间隙；L4为所述第一轴段与所述第二轴段的同轴度；H1为所述第一轴段的长度；H2为所述芯轴和所述套轴的内腔的配合长度。9.如权利要求8所述的同轴度校准工具，其特征在于，所述L1＝0.004mm，所述L2＝0.029mm，所述L4＝0.004mm，所述H1＝40mm，所述H2＝42mm，代入所述计算式，计算得到所述第一抵接部和所述第二抵接部的同轴度L＝0.05mm。10.一种同轴度校准方法，其特征在于，采用如权利要求1至9中任一项所述的同轴度校准工具，包括：将所述同轴度校准工具一端的抵接部与被校准产品的一端配合；将所述同轴度校准工具另一端的抵接部与被校准产品的另一端配合，若能正常配合，则被校准产品同轴度符合要求，否则，被校准产品同轴度不符合要求。2CN113758405A说明书1/4页一种同轴度校准工具和同轴度校准方法技术领域[0001]本发明涉及同轴度校准技术领域，具体涉及一种同轴度校准工具和一种同轴度校准方法。背景技术[0002]现在市面上的同轴度校准试棒，它是两端均为圆柱面、不可伸缩的棒状工具。一种长度的试棒只能校准同长度的产品，当需要校准不同长度的产品时，需要使用不同长度的试棒，而且试棒两端的圆面与校准产品存在配合间隙，这必然会影响校准精度。发明内容[0003]为解决上述一种长度的试棒只能校准同长度的产品的问题，本发明提出一种同轴度校准工具和一种同轴度校准方法。[0004]根据第一方面，一种实施例中提供一种同轴度校准工具，包括：芯轴、套轴和弹性复位件；[0005]所述套轴上设有内腔，所述芯轴与所述套轴的内腔配合，所述芯轴能在所述套轴的内腔中滑动，以校准不同尺寸的产品；所述芯轴的前端