一种晶体裂纹检测装置及其监测方法.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115326628A(43)申请公布日2022.11.11(21)申请号202211245419.4(22)申请日2022.10.12(71)申请人江苏晶杰光电科技有限公司地址221113江苏省徐州市邳州市经济开发区环城北路北侧非晶产业园三期16号厂房(72)发明人施剑陈炳寺(74)专利代理机构东莞市尚标联合知识产权代理事务所(普通合伙)44822专利代理师钟建星(51)Int.Cl.G01N5/00(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图3页(54)发明名称一种晶体裂纹检测装置及其监测方法(57)摘要本发明涉及裂纹检测装置技术领域，具体涉及一种晶体裂纹检测装置及其监测方法，所述检测装置包括支脚，所述支脚上安装有动力机构，动力机构上设有底架，所述底架上安装有第一电磁铁；所述底架经过动力机构调节第一电磁铁的位置，第一电磁铁对晶体表面的铁粉进行吸附；所述主体上表面设有抬升机构，通过设置铁粉配合动力机构以及第一电磁铁，对于晶体待检测面的存在的铁粉进行移动，在多次往复移动后经第一电磁铁带动多余铁粉的排除，由第二电磁铁吸附晶体待检测面残留的铁粉，配合称重器对吸附的残留铁粉进行称重，再对比标准镜面的数据确定晶体裂纹程度。CN115326628ACN115326628A权利要求书1/2页1.一种晶体裂纹检测装置，包括主体（1），以及安装在主体（1）下表面的支脚（11），其特征在于；所述支脚（11）上安装有动力机构，动力机构上设有底架（14），所述底架（14）上安装有第一电磁铁（15）；其中，所述底架（14）经过动力机构调节第一电磁铁（15）的位置，在晶体表面均匀洒下铁粉，第一电磁铁（15）对晶体表面的铁粉进行吸附，经过动力机构让铁粉在晶体待检测面往复移动，直至移出晶体待检测面范围；所述主体（1）上表面设有抬升机构，抬升机构内设有第二电磁铁（33），抬升机构内设有两个称重器（34），所述称重器（34）的检测端安装有支撑杆（36），支撑杆（36）底端设置有软胶片（37），软胶片（37）与第二电磁铁（33）黏贴，软胶片（37）隔离第二电磁铁（33）吸附的铁粉，以避免第二电磁铁（33）直接接触铁粉。2.根据权利要求1所述的一种晶体裂纹检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括支撑机构，所述支撑机构包括：顶架（24）、固定架（25）和橡胶片（26），所述的主体（1）和底架（14）之间固定安装有顶架（24），顶架（24）内部均匀设有固定架（25），所述顶架（24）内部下侧设有橡胶片（26），晶体由固定架（25）固定，且晶体底部与橡胶片（26）接触。3.根据权利要求1所述的一种晶体裂纹检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：震动板（2）、支柱（21）和震动电机（27），所述第一电磁铁（15）内开设有安装槽（17），所述安装槽（17）内设有震动板（2），所述震动板（2）上表面均匀设有支柱（21），支柱（21）贯穿第一电磁铁（15），震动板（2）下表面固定安装有震动电机（27），震动电机（27）产生震动经震动板（2）与支柱（21）传导至晶体。4.根据权利要求1所述的一种晶体裂纹检测装置，其特征在于，所述动力机构包括：支架（12）、外架（13）、电磁滑杆（18）和电磁滑块（19），所述支脚（11）靠近顶端处固定安装有支架（12），所述支架（12）一侧设有外架（13），两个所述外架（13）靠近一端处固定安装有电磁滑杆（18），所述主体（1）对应电磁滑杆（18）配合设置有电磁滑块（19），经电磁滑块（19）在电磁滑杆（18）上移动带动底架（14）和第一电磁铁（15）移动。5.根据权利要求1所述的一种晶体裂纹检测装置，其特征在于，所述抬升机构包括：台架（3）、伸缩杆（31）和延伸架（35），所述主体（1）上表面两侧设有伸缩杆（31），所述伸缩杆（31）外顶端处设有台架（3），台架（3）开设有外孔（32），外孔（32）内设有第二电磁铁（33），所述台架（3）底端围绕第二电磁铁（33）设有延伸架（35）。6.根据权利要求5所述的一种晶体裂纹检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：所述延伸架（35）对应支撑杆（36）处开设有操作孔（38），所述延伸架（35）底端黏贴有橡胶垫（39）。7.根据权利要求2所述的一种晶体裂纹检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：螺纹杆（28），螺纹杆（28）与固定架（25）螺纹安装；橡胶囊（23），橡胶囊（23）安装与螺纹杆（28）顶端处；充气口（22），充气口（22）位于橡胶囊（23）一侧，且贯通橡胶囊（23）外壁；其中，由橡胶囊（23）控制夹持晶体的力度，以及控制晶体震动幅度，以对晶体进行稳定夹持。2CN115326628A权利要求书2/2页8.一种晶体裂纹检测装置