基于直角棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置.pdf
康佳****文库
在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便
相关资料
基于直角棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置.pdf
基于直角棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置属于激光应用技术领域;发明方法采用了两束具有不同频率的空间分离平行光,两平行光束在非偏振分光棱镜上的入射点位于入射面的对角线上,并关于入射面的中心点对称,并采用直角棱镜作为参考棱镜和测量棱镜;该方法最终产生了两个具有相反多普勒频移的干涉测量信号来进行干涉测量;本发明方法及装置消除了干涉仪中的频率混叠现象,提高了外差干涉测量的测量精度,同时将外差干涉测量的分辨率提高了一倍。
基于角锥棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置.pdf
基于角锥棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置属于激光应用技术领域;发明方法采用了两束具有不同频率的空间分离平行光,两平行光束在非偏振分光棱镜上的入射点位于入射面的对角线上,并关于入射面的中心点对称,并采用角锥棱镜作为参考棱镜和测量棱镜;该方法最终产生了两个具有相反多普勒频移的干涉测量信号来进行干涉测量;本发明方法及装置对被测目标的倾斜不敏感,消除了干涉仪中的频率混叠现象,提高了外差干涉测量的测量精度,同时将外差干涉测量的分辨率提高了一倍。
基于激光外差干涉术的薄膜厚度测量方法.docx
基于激光外差干涉术的薄膜厚度测量方法激光外差干涉术(LaserInterferometry)是一种高精度、高分辨率、非接触式的光学测量技术。该技术可用于测量物体的形状、表面光滑度和微小变形。其中,基于激光外差干涉术的薄膜厚度测量方法被广泛应用于微电子工业和材料科学研究领域,以分析薄膜的物理和电学性质。一、激光外差干涉术(LaserInterferometry)原理激光外差干涉术是基于干涉原理的一种光学测量技术,是一种高精度、高分辨率、非接触式的光学测量技术。其基本原理是将两束相干的激光束分别照射到被测物表
基于光学外差干涉的折射率测量方法.docx
基于光学外差干涉的折射率测量方法基于光学外差干涉的折射率测量方法摘要:折射率是材料的重要光学参数之一,其测量方法的准确性和精确度对于光学系统的设计和分析非常关键。本论文阐述了基于光学外差干涉的折射率测量方法的原理、实验装置和数据处理方法。该方法通过测量样品与参比样品的干涉条纹的移动,计算出样品的折射率。理论分析表明,该方法具有高精度和高灵敏度,适用于各种材料的折射率测量。实验结果表明,该方法的测量误差小于0.1%,可满足实际应用的要求。1.引言折射率是光在材料中传播的速度与真空中传播速度的比值。它能够描述
光电测试技术- 激光外差干涉.ppt
激光外差干涉测试技术光电检测系统分类直接检测的基本原理激光外差干涉测试技术光外差探测系统一、光外差探测原理光外差探测与直接探测相比较有许多优点,在直接探测中由于光的振动频率高达2×1013~7.5×1014Hz,振动周期T为5×10-14~1.3×10-15s(可见光到中近红外),而探测器响应时间最短10-10s,它只能响应其平均能量或平均功率。在直接探测中,设光波动的圆频率为ω,振幅为A,则光波f(t)写成fs为信号光波,fL为本机振荡(本振)光波,这两束平面平行的相干光,经过分光镜和可变光阑入射到探测