用于像素阵列的片上测试的电路和方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105530508A(43)申请公布日2016.04.27(21)申请号201510634790.3(22)申请日2015.09.29(30)优先权数据14601212014.10.21FR(71)申请人意法半导体（格勒诺布尔2）公司地址法国格勒诺布尔(72)发明人费日春S·米尔J·莫罗(74)专利代理机构北京市金杜律师事务所11256代理人王茂华(51)Int.Cl.H04N17/00(2006.01)权利要求书3页说明书7页附图5页(54)发明名称用于像素阵列的片上测试的电路和方法(57)摘要提供了用于像素阵列的片上测试的电路和方法。通过将信号跃迁施加到控制接线，并且基于在控制接线上检测到的电压信号来检测控制接线上的信号跃迁的至少一部分的持续时间，执行对图像传感器的像素阵列的控制接线的测试。基于检测到的持续时间与阈值的比较，指示控制接线中的电故障。CN105530508ACN105530508A权利要求书1/3页1.一种方法，包括：将信号跃迁施加到图像传感器的像素阵列的控制接线；基于在所述控制接线上检测到的电压信号，检测所述控制接线上的信号跃迁的至少一部分的持续时间；以及基于检测到的所述持续时间，检测所述控制接线中的电故障。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述电故障是所述控制接线中的电阻性开路和电阻性短路之一。3.根据权利要求1所述的方法，其中检测所述电故障包括将检测到的所述持续时间与参考持续时间进行比较，其中如果检测到的所述持续时间超过所述参考持续时间，则检测到故障。4.根据权利要求1所述的方法，其中检测所述持续时间包括：当所述控制接线上的所述电压信号达到第一阈值时，通过第一电路确立第一信号；当所述控制接线上的所述电压达到第二阈值时，通过第二电路确立第二信号；以及基于所述第一信号和所述第二信号，检测所述电故障。5.一种电路，包括：控制电路，被配置为将信号跃迁施加到图像传感器的像素阵列的控制接线；以及故障检测电路，耦合到所述控制接线，并且被配置为确定所述控制接线上的所述信号跃迁的至少一部分的持续时间；并且基于检测到的所述持续时间，检测所述控制接线中的电故障。6.根据权利要求5所述的电路，其中所述故障检测电路包括：第一电路，适于当所述控制接线上的所述电压信号达到第一阈值时确立第一信号；以及第二电路，适于当所述控制接线上的所述电压信号达到第二阈值时确立第二信号；所述故障检测电路被配置为基于所述第一信号和所述第二信号进行所述故障检测。7.根据权利要求6所述的电路，其中所述第一电路包括低阈值反相器。8.根据权利要求6所述的电路，其中所述第二电路包括半施密特触发器。9.根据权利要求6所述的电路，其中：所述第一电路包括第一晶体管，所述第一晶体管的控制节点耦合到所述控制接线；并且所述第二电路包括第二晶体管和第三晶体管，所述第二晶体管和所述第三晶体管中的每个晶体管的控制节点耦合到所述控制接线。10.根据权利要求9所述的电路，其中所述第一晶体管具有比所述第二晶体管和所述第三晶体管中的每个晶体管的宽度/长度比大的宽度/长度比。11.根据权利要求9所述的电路，其中所述第二电路进一步包括：第四晶体管，与所述第二晶体管和所述第三晶体管串联耦合；以及第五晶体管，通过其主导电节点耦合在电源电压节点和中间节点之间，所述中间节点在所述第二晶体管和所述第三晶体管之间，所述第五晶体管的控制节点耦合到在所述第二晶体管和所述第四晶体管之间的中间节点。12.根据权利要求11所述的电路，其中所述第四晶体管的控制节点耦合到重置信号，2CN105530508A权利要求书2/3页并且其中所述第一电路包括第六晶体管，所述第六晶体管耦合到所述第一晶体管的所述主导电节点之一，并且所述第六晶体管的控制节点耦合到所述重置信号。13.根据权利要求5所述的电路，其中所述参考持续时间由接收所述第二信号的缓冲器生成。14.一种系统，包括：多个测试电路，每个测试电路耦合到多个控制接线中的一个对应控制接线，其中每个测试电路包括：控制电路，被配置为将信号跃迁施加到图像传感器的像素阵列的控制接线；以及故障检测电路，耦合到所述控制接线，并且被配置为：确定所述控制接线上的所述信号跃迁的至少一部分的持续时间；并且基于检测到的所述持续时间，检测所述控制接线中的电故障；以及多个同步设备，被配置为将检测到的所述持续时间与参考持续时间进行比较，其中所述同步设备被配置为菊花链式的，以输出针对所述多个控制接线中的每个控制接线的所述比较的结果。15.根据权利要求14所述的系统，其中每个故障检测电路包括：第一电路，适于当所述控制接线上的所述电压信号达到第一阈值时确立第一信号；以及第二电路，适于当所述控制接线上的所述电压信号达到第二阈值时确立第