用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节方法及系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106361375A(43)申请公布日2017.02.01(21)申请号201610825139.9(22)申请日2016.09.14(71)申请人飞依诺科技（苏州）有限公司地址215123江苏苏州工业园区新发路27号A栋5楼、C栋4楼(72)发明人郭建军陈惠人(74)专利代理机构苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙)32235代理人苏婷婷(51)Int.Cl.A61B8/08(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图2页(54)发明名称用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节方法及系统(57)摘要本发明提供的用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节方法及系统，所述方法包括以下步骤：每次扫查开始前，获取超声脉冲多普勒成像过程中的扫查参数；根据所述扫查参数获取当前扫查发射孔径和系统预设发射孔径阈值；根据所述当前扫查发射孔径和所述系统预设发射孔径阈值的大小关系，自动调节当次发射扫查孔径大小。本发明根据超声脉冲多普勒成像过程中的扫查参数，自动调节扫查发射孔径以及扫查接收孔径的大小，保证在各种情况下，均能获得较佳的扫查孔径，从而保证了成像质量，提高了系统的鲁棒性。CN106361375ACN106361375A权利要求书1/2页1.一种用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：每次扫查开始前，获取超声脉冲多普勒成像过程中的扫查参数；所述扫查参数包括：系统预设孔径参数、扫查焦点的焦点距离、发射变迹窗的主瓣系数、扫查脉冲重复频率、波速的扫查方向与散射子的运动方向之间的夹角、系统预设扫查时间；根据所述扫查参数获取当前扫查发射孔径和系统预设发射孔径阈值；根据所述当前扫查发射孔径和所述系统预设发射孔径阈值的大小关系，自动调节当次发射扫查孔径大小。2.根据权利要求1所述的用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节方法，其特征在于，“根据所述扫查参数获取当前扫查发射孔径”具体包括：根据所述系统预设孔径参数、扫查焦点的焦点距离获取所述当前扫查发射孔径；所述当前扫查发射孔径等于系统预设孔径参数和扫查焦点的焦点距离的乘积；所述预设孔径参数的取值范围为[0.5,4]。3.根据权利要求1所述的用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节方法，其特征在于，“根据所述扫查参数获取系统预设发射孔径阈值”具体包括：根据所述扫查焦点的焦点距离、发射变迹窗的主瓣系数、扫查脉冲重复频率、波速的扫查方向与散射子的运动方向之间的夹角、系统预设扫查时间获取系统预设孔径阈值；则：a_tx=2.412*z_tx*K/(prf*sin(sita)*t_min)其中，a_tx表示系统预设孔径发射阈值，z_tx表示扫查焦点的焦点距离，K表示发射变迹窗的主瓣系数；prf表示扫查脉冲重复频率，sita表示波速的扫查方向与散射子的运动方向之间的夹角，t_min表示系统预设扫查时间。4.根据权利要求1所述的用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节方法，其特征在于，“根据所述当前扫查发射孔径和所述系统预设发射孔径阈值的大小关系，自动调节当次发射扫查孔径大小”具体包括：若所述当前扫查发射孔径小于等于所述系统预设发射孔径阈值，则保持当前扫查发射孔径不变；若所述当前扫查发射孔径大于所述系统预设发射孔径阈值，则将本次扫查过程中的扫查发射孔径调整为系统预设发射孔径阈值。5.根据权利要求4所述的用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述扫查发射孔径调整，则获取波束合成的波束数量；根据调整后的所述扫查发射孔径以及所述波束合成的波束数量获取超声脉冲多普勒成像过程中的扫查接收孔径。6.一种用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节系统，其特征在于，所述系统包括：超声数据采集模块，用于每次扫查开始前，获取超声脉冲多普勒成像过程中的扫查参数；超声数据处理模块，用于根据所述扫查参数获取当前扫查发射孔径和系统预设发射孔径阈值；2CN106361375A权利要求书2/2页超声数据调整模块，用于根据所述当前扫查发射孔径和所述系统预设发射孔径阈值的大小关系，自动调节当次发射扫查孔径大小。7.根据权利要求6所述的用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节系统，其特征在于，所述超声数据处理模块具体用于：根据所述系统预设孔径参数、扫查焦点的焦点距离获取所述当前扫查发射孔径；所述当前扫查发射孔径等于系统预设孔径参数和扫查焦点的焦点距离的乘积；所述预设孔径参数的取值范围为[0.5,4]。8.根据权利要求6所述的用于超声脉冲多普勒成像的孔径自动调节系统，其特征在于，所述超声数据处理模块具体用于：根据所述扫查焦点的焦点距离、发射变迹窗的主瓣系数、扫查脉冲重复频率、波速的扫查方向与散射子的运动方向之间的夹角、系统预设扫查时间获取系统