用于物体的几何测量的装置和方法.pdf
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用于物体几何测量的装置和方法.pdf
本发明涉及一种用于物体(14)几何测量的方法和装置,具有:‑用于物体(14)的支座(12),‑至少一个相对于支座(12)可固定的基准物体(18,20),‑在至少一个方向(x,z)上可相对于基准物体(18,20)运动的支架(126),在支架上配置有一个基准物件(128)和一个间距测量设备(70),设计间距测量设备(70)是用于测量在物体(14)和基准物件(128)之间的间距(38,140),‑其中在支架(126)或基准物件(138)上相互呈间距地配置有朝向基准物体(18,20)的第一和第二基准传感器(150
用于物体的几何测量的装置和方法.pdf
本发明涉及一种用于物体(14)的几何测量的装置和方法,该装置具有:‑一个基座(11)及配置在基座(11)上的用于该物体(14)的支座设备(12),‑至少一个基准物体(18,20),其可相对于该基座(11)而固定,‑至少一个间距测量设备(70),借助于该间距测量设备(70)可测定该基准物体(18,20)和该物体(14)面向该基准物体(18,20)的表面(14a,14b)之间的间距,以及‑一个物体支架,其具有上侧(104)和下侧(106),物体(14)可固定在该物体支架(100)上,其中该物体支架(100)可
用于物体的几何测量的装置和方法.pdf
本发明涉及一种用于物体(14)的几何测量的装置和方法,该装置具有:‑用于该物体(14)的支座(12),该支座限定轴向方向(z)和径向方向(x);‑支架(26),该支架关于该轴向方向(z)以及关于该径向方向(x)都可相对于该支座(12)移动并且设置有距离测量设备(30);‑至少一个基准物体(18,19,20),所述至少一个基准物体相对于该支座(12)是可固定的,‑其中在支架(26)和基准物体(18,19,20)中的一个上布置纵向延伸的第一基准结构(22)和纵向延伸的第二基准结构(24),以及,‑其中在支架(
用于处理物体的方法和装置.pdf
本发明涉及一种用于处理由具有限定熔化温度的材料制造的物体(19、119)的方法以及相应的装置。对物体(19、119)进行热等静压加工以减少孔隙率并增加其密度。随后,将液体加热(208)至高于熔化温度的第二温度,然后将物体(19、119)从所述内腔(6、106)的在自由液体表面(18、118)上方的部分(12、112)移动到液体中并再次浸入其中以降低其表面粗糙度。随后,物体(19、119)从液体中取出(210),并移动到在所述内腔(6、106)的在自由液体表面(18、118)上方的部分(12、112)中。所
用于物体调温的装置和方法.pdf
提出一种用于物体调温的装置,具有用于使调温介质环绕该物体流动的机构,其特征是,该机构包括至少一个由金属带(3a)绕成的盘卷软管(3),该盘卷软管(3)布置在该物体的周面(2)处并且至少在局部包围该周面,该盘卷软管(3)在其轮廓(3b)的内部形成用于该调温介质的内空的螺旋形流动腔(5)。