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2010正仪表技术与传感器2010 第5期InstrumentTechniqueandSensorNo.5 基于CCD和FPGA的光栅位移测量系统 常丽,李健强 (沈阳工业大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳110178) 摘要:介绍了一种基于CCD和FPGA的光栅位移测量技术,建立了光栅位移测量系统。系统由线阵CCD采集光栅莫 尔条纹,将检测到的莫尔条纹通过A/D转换器输入FPGA处理器,FPGA处理器对采集到的莫尔条纹信号进行处理,利用 FFr变换求取信号相位的变化,再根据相位的变化求出位移值。文中详细介绍了工作原理的推导过程、CCD驱动控制、信 号预处理以及F丌变换在FPGA中的设计实现。实验验证该系统抗干扰能力强,对光栅信号质量要求不高,能到达较高 的细分数,并且系统集成度高,开发成本低,运行稳定。 关键词:光栅;CCD;FPGA;F丌 中图分类号:TP216文献标识码:A文章编号:1002—1841(2010)05—0103—03 GratingDisplacementMeasurementSystemBased0nCCDandFPGA CHANGLi,LIJian—qiang (SchoolofInformationScienceandEngineering,ShenyangUniversityofTechnology,Shenyang110178,China) Abstract:ThispaperintroducedthegratingdisplacementmeasurementtechnologybasedonFPGAandCCD,andsetupa gratingdisplacementmeasurementsystem.ThelinearCCDcollectedthegratingmoirefringeandsentthemoirefringesignalto A/Dconverter.FPGAprocessoracceptedthemoirefringedirtalsignalsandcarriedoutFFTrtransformprocessthatcouldcalculate themoirefringephasechange,theaccumlationofphasechangewasthegratingdisplacementvalue.Thepaperdescribedthederiva’ tionprocessoftheworkprinciple.CCDdrivingcontrolandpre—processofsignal,aswellasthedesignofFFrtransformintheFP‘ GAprocessor.Experimentprovesthatthesystemhasbetteranti-interferenceability,lowrequirementforthegratingsignalquality, thehighersubdivisionnumber,highersystemintegration,lowercost,andstableoperation. Keywords:grating;CCD;FPGA;FFr 0引言率,即莫尔条纹的基频频率,在此忽略了输出信号中2次及以 计量光栅技术近年来在精密仪器、超精加工、数控机床等上谐波和噪声。 领域得到了广泛的应用I2J。它的基本原理是将直线或角度如果光栅尺移动,莫尔条纹也相应的移动,则CCD输出的 位移量转化为莫尔条纹信号,再对条纹信号进行细分和计数,相邻的两帧数据具有一定的相位差,设相位差为△西,则光栅移 从而得到位移量,细分成为提高位移测量精度的主要途径,目动的位移值为: 前莫尔条纹的细分手段主要有锁相倍频法,正切法。但是:.。d(2z) 随着细分数的增加,无论锁相倍频法细分还是正切法细分,细 式中为位移量;d为光栅的栅距。 分前信号的质量成为制约细分成败的关键,而近年来随着CCD 光栅尺正向移动,△为正,光栅尺反向移动,△为负,最 技术的不断完善和提高,使其作为用于莫尔条纹的拾取工具成 为可能,很大程度提高了信号质量。后将相位差相加,如果总的相位差为正,则光栅尺总体正向移 动,反之,则光栅尺反向移动,根据位移公式(2),可以得到准确 文中提出了利用CCD拾取莫尔条纹信号,并利用快速傅里 叶变换能够消除噪声和谐波干扰的特性J,求取高精度的相位的位移值。从(2)式可以看出,只要求出相位值,便可间接的得 到位移值,通常测量相位的方法有过零比较法,相关函数法和 差,通过相位差求出位移值。系统选用FPGA作为核心处理器。 傅里叶变换法。当信号受谐波或噪声干扰时,基于过零比较法 1测量原理