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第三章Oxidation氧化简介Oxidation氧化膜的应用掺杂阻挡氧化层表面钝化(保护)氧化层ScreenOxidePadandBarrierOxidesinSTIProcessApplication,PadOxide牺牲氧化层SacrificialOxide器件隔离氧化层BlanketFieldOxideIsolationLOCOSProcessLOCOS栅氧化层氧化膜(层)应用SiliconDioxideGrownonImproperlyCleanedSiliconSurface表面未清洗硅片的热氧化层氧化前圆片清洗RCA清洗Pre-oxidationWaferCleanParticulateRemoval被氧化的硅片上有机物的清除无机物的清洗Pre-oxidationWaferCleanNativeOxideRemovalOxidationMechanismOxideGrowthRateRegime<100>SiliconDryOxidation水汽氧化(SteamOxidation)<100>SiliconWetOxidationRate湿氧氧化(WetOxidation)氧化速率氧化速率与温度氧化速率与圆片晶向湿氧氧化速率氧化速率与杂质浓度氧化:杂质堆积和耗尽效应DepletionandPile-upEffects氧化速率与HCl掺杂氧化氧化速率与不均匀氧化在干氧中的氧化速率在合成水汽中的氧化速率二氧化硅色谱氧化工艺DryOxidationSystem氧化装置系统DryOxidationDanglingBondsandInterfaceChargeWetOxidationProcessWaterVaporSourcesBoilerSystemBubblerSystemFlushSystemPyrogenicSteamSystemPyrogenicSystemRapidThermalOxidationHighPressureOxidation氧化小结