一种电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102359761A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102359761A(43)申请公布日2012.02.22(21)申请号201110260731.6(22)申请日2011.09.05(71)申请人温州大学地址325035浙江省温州市茶山高教园区温州大学(72)发明人胡众义许明海(74)专利代理机构北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)11369代理人史霞(51)Int.Cl.G01B11/06(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图1页(54)发明名称一种电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法(57)摘要本发明公开了一种电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法，本方法主要的特征是：先通过设定合适的光学显微镜的放大倍数和数字图像采集器(如工业相机)的分辨率后进行数字图像采集，采集到的数字图像传输给计算机或数字处理器，经过二值化处理和边缘检测，提取出轮廓图，数据处理器中的程序自动处理后，通过计算得到电缆和光缆的绝缘和护套材料厚度后显示测量结果，并将测量结果数据和标注过的图片生成记录报告。本发明方法实现简单，测量速度快，测量结果可靠、精度高。为我国相关的计量、检测行业提供了快速、准确测量电缆和光缆的绝缘和护套材料厚度的方法。CN10235976ACCNN110235976102359778A权利要求书1/2页1.一种电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法，由一台光学显微镜、一台数字图像采集器和一台计算机或数字处理设备进行检测，利用程序处理功能自动测量电缆和光缆的绝缘和护套材料厚度，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、根据电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片的尺寸范围，设定光学显微镜的放大倍数Z；步骤二、将电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片放到光学显微镜测量平台上；步骤三、启动光学显微镜中的数字图像采集器，设定分辨率为r，单位是像素/毫米；步骤四、打开与数字图像采集器相连的数据处理器，输入所测量电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片的编号和名称，采集环形薄片数字图像；步骤五、将步骤四中获得的数字图像进行黑白二元化处理，然后进行边缘检测，识别并提取电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片的直径轮廓；步骤六、由数据处理器在电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片内径轮廓上任意取n个测量点，计算每一点至该轮廓上最远点的距离分别为d1，d2……di……dn，则自动测量电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片内径的尺寸为d内，其中d内为电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片的内径，n为测量次数，Z为光学显微镜放大倍数，r为数字图像采集器分辨率；步骤七、由数据处理器在电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片外径轮廓上任意取m个测量点，计算每一点至该轮廓上最远点的距离分别为d1，d2……dj……dm，则自动测量电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片外径的尺寸为d外，其中d外为电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片的外径，m为测量次数，Z为光学显微镜放大倍数，r为数字图像采集器分辨率；步骤八、d外与d内结果的差值的1/2即为被测量目标的初始厚度i；步骤九、重复上述步骤六、步骤七和步骤八，得到初始厚度i+1，并随后计算初始厚度i+1与初始厚度i之间的差值；步骤十、重复上述步骤六、步骤七、步骤八和步骤九，得到多个差值，对这些差值进行平差，最终得到第一精确厚度；步骤十一、再次重复步骤一到步骤十，其中步骤一中的光学显微镜的放大倍数设定为小于上述Z的数值X，最终得到的第二精确厚度；步骤十二、将第一精确厚度和第二精确厚度取平均值作为第一测量结果数据；步骤十三、多次重复上述步骤十～步骤十二，其中取步骤一中的光学显微镜的放大倍数设定为大于或小于上述Z的数值Y，并最终得到多个测量结果，将所有的测量结果进行平均，并将最终平均测量结果数据和标注过的图片生成记录报告。2CCNN110235976102359778A权利要求书2/2页2.如权利要求1所述的电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法，其特征在于：步骤一的参数亦可在打开数据处理器后由其通过系统专家软件分析，提供放大倍数参考值进行设定。3.如权利要求1所述的电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法，其特征在于：步骤二的电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片需沿着与电缆导体或光缆轴线相垂直的平面切取薄片，选择内外壁光滑程序最好的切片。4.如权利要求1所述的电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法，其特征在于：步骤二的具体位置以成像居中为宜，一般选择放在测量平台中央位置。5.如权利要求1所述的电缆和光缆绝缘和护套材料厚度测量方法，其特征在于：步骤三的，r的值可根据Z的大小、被测电缆或光缆的绝缘和护套材料的横截环形薄片规格来设定，亦可在打开数据处理器后由其通