用于确定颗粒尺寸的装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102713562A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102713562A(43)申请公布日2012.10.03(21)申请号201080061435.7(51)Int.Cl.(22)申请日2010.11.11G01N15/14(2006.01)G01N1/08(2006.01)(30)优先权数据09175995.12009.11.13EP(85)PCT申请进入国家阶段日2012.07.13(86)PCT申请的申请数据PCT/EP2010/0672742010.11.11(87)PCT申请的公布数据WO2011/058092DE2011.05.19(71)申请人布勒股份公司地址瑞士乌兹威尔(72)发明人M·海涅S·曼兹(74)专利代理机构北京泛华伟业知识产权代理有限公司11280代理人王勇权利要求书权利要求书2页2页说明书说明书1313页页附图附图88页(54)发明名称用于确定颗粒尺寸的装置(57)摘要本发明涉及用于测量颗粒尺寸分布的方法，尤其是用于光学地测量松散物料如谷物、谷物碾磨制品、谷物制品及类似物的广泛的颗粒尺寸分布，它能够实现对于具有广泛的数量级的颗粒尺寸分布的测量。为了解决该任务规定，借助至少两个测量方法在一个装置中对分散的颗粒的样品进行光学检测，其中优选同时检测颗粒的轮廓，并且进行激光衍射。CN1027356ACN102713562A权利要求书1/2页1.用于确定颗粒尺寸分布的方法，其特征在于下述步骤：a）借助生产方法来生产含颗粒的产品流或者制备含颗粒的产品流，所述产品流通过生产方法生产，其中所述生产方法选自含粉碎、清洁、分离、混合和凝集的方法的组，或它们的任意组合，b）通过至少对颗粒的一部分检测来生成测量数据，其中，所述测量数据至少借助于至少两种不同的光学测量方法通过光学检测颗粒的所述部分而生成，c）根据步骤b）中光学检测到的测量数据来确定颗粒的所述部分的至少一个特性，其中，至少一个特性是颗粒的所述部分的尺寸分布，其特征在于，至少一种光学测量方法包括对颗粒的所述部分的衍射图像的检测。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从由步骤a）中生产或制备的产品流中提取包含颗粒的样品，并在步骤b）中对所述样品中的颗粒进行光学检测。3.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，至少一种所述测量方法在步骤b）中包括对颗粒投影面积的检测。4.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在步骤c）中确定的特性包括颗粒的所述部分的形状、形状系数、颜色、颜色分量和/或速度。5.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述生产方法是粉碎方法、尤其是碾磨方法。6.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述生产方法的至少一个工序参数是根据步骤c）中确定的特性、尤其是根据颗粒的所述部分的尺寸分布来控制和/或调节的。7.用于确定颗粒尺寸分布的装置，尤其是用于执行根据权利要求1至6中任一项所述的方法，包括-生产装置，用于借助于生产方法生产含颗粒的产品流，和/或制备装置，用于制备含颗粒的产品流，所述产品流借助于生产方法生产，其中，所述生产方法选自含粉碎、清洗、分离、混合和凝集的方法的组，-至少两个测量装置，用于检测颗粒的至少一部分，其中，至少两个测量装置被构造为两个用于光学检测颗粒的所述部分的不同的光学测量装置（6、7），-计算单元，用于根据由光学测量装置获得的测量数据来确定颗粒的所述部分的至少一个特性，其中，至少一个特性是颗粒的所述部分的尺寸分布，其特征在于，至少一个光学测量装置（6）被构造用于检测颗粒的衍射图像。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置具有用于从产品流中提取样品的取样装置和用于将样品传送到测量区域的传送装置，其中，所述测量装置的构造及布置使得样品能够借助于所述测量装置在测量区域中被光学检测。9.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，至少一个光学测量装置（7）被构造用于检测颗粒的投影面积。10.根据权利要求7至9中任一项所述的装置，其特征在于，至少一个所述测量装置被构造为电感的、电容的、超声波的、近红外线的和/或颜色的传感器。11.根据权利要求7至10中任一项所述的装置，其特征在于通过至少一个控制电路和/或调节电路，根据计算单元确定的特性、尤其是根据颗粒的所述部分的尺寸分布，对所述2CN102713562A权利要求书2/2页生产装置的至少一个工序参数进行控制或调节。12.用于从在流体管路中输送的产品流中提取样品的取样装置（1），尤其是在根据权利要求2至6中任一项所述的方法中和/或在根据权利要求7至11中任一项所述的装置中，包含-蜗壳（12），所述蜗壳至少被部分地布置或可布置在流体管路中，-至少部分地容纳在蜗壳（12）中用于提取样品的取