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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利(10)授权公告号(10)授权公告号CNCN102782441102782441B(45)授权公告日2015.02.04(21)申请号201180011696.2(56)对比文件CN101561349A,2009.10.21,全文.(22)申请日2011.03.25CN101339009A,2009.01.07,全文.(30)优先权数据JP特开平9-178461A,1997.07.11,全文.2010-0856612010.04.02JPJP平2-194311A,1990.07.31,全文.(85)PCT国际申请进入国家阶段日JP昭58-100707A,1983.06.15,全文.2012.08.31JP昭63-307313A,1988.12.15,全文.(86)PCT国际申请的申请数据审查员王书伦PCT/JP2011/0572792011.03.25(87)PCT国际申请的公布数据WO2011/125533JA2011.10.13(73)专利权人三菱重工业株式会社地址日本东京都(72)发明人增尾光一大槻直洋柳瀬吉言(74)专利代理机构北京市柳沈律师事务所11105代理人岳雪兰(51)Int.Cl.G01B5/00(2006.01)G01B5/20(2006.01)权权利要求书1页利要求书1页说明书8页说明书8页附图7页附图7页(54)发明名称齿轮测量装置的校正方法(57)摘要一种齿轮测量装置的校正方法,求出齿形斜度误差的差(△α),该差(△α)是通过基圆的切线方向扫描方法求齿轮齿形时的齿形斜度误差(α1)与通过基圆的切线方向以外的扫描方法求齿轮齿形时的齿形斜度误差(α2)的偏差,使用齿形斜度误差的差(△α)和齿轮各要素来求位置误差(△x),根据位置误差(△x)来校正测头的位置。由此,不使用机械基准部件就能够校正测头的位置。CN102782441BCN102784BCN102782441B权利要求书1/1页1.一种齿轮测量装置的校正方法,齿轮测量装置具有:测量器具,其在使测头与被测量齿轮的齿面接触时,输出表示所述测头与所述被测量齿轮接触位置的位置信号,且沿三维方向的各方向被驱动;运算机构,其通过运算处理所述位置信号来测量所述被测量齿轮,其特征在于,具有:求所述被测量齿轮的第一齿形斜度误差α1的工序,其与使所述测头向基圆的切线方向移动同步,使所述被测量齿轮围绕其旋转轴旋转,对所述测头与所述被测量齿轮的齿面接触时输出的位置信号进行运算处理,求出所述被测量齿轮的齿形,从该齿形来求所述被测量齿轮的第一齿形斜度误差α1;求所述被测量齿轮的第二齿形斜度误差α2的工序,其与使所述测头向基圆切线方向以外的方向移动同步,使所述被测量齿轮围绕其旋转轴旋转,对所述测头与所述被测量齿轮的齿面接触时输出的位置信号进行运算处理,求出所述被测量齿轮的齿形,从该齿形来求所述被测量齿轮的第二齿形斜度误差α2;计算齿形斜度误差的差△α的工序,该齿形斜度误差的差△α是所述第一齿形斜度误差α1与所述第二齿形斜度误差α2的差;求所述测头位置误差△x的工序,其使用所述齿形斜度误差的差△α和所述被测量齿轮的齿轮各要素来求所述测头的位置误差△x;校正位置工序,其根据所述位置误差△x来校正所述测头的位置,在使用所述齿形斜度误差的差△α和所述被测量齿轮的齿轮各要素来求所述测头的位置误差△x的工序中,使用下式来求位置误差△x,△x=△α/{tan(α21+αA)-tan(α22-αB)}其中,αA是齿顶测量偏置角度,αB是齿根测量偏置角度,在把被测量齿轮的基圆直径设定为Dg、把外径设定为Do、把齿底直径设定为Dr、把测头的球径设定为d时,α21=tan-1[[(Do2-Dg2)0.5+d]/Dg]α22=tan-1[[(Dr2-Dg2)0.5+d]/Dg]。2CN102782441B说明书1/8页齿轮测量装置的校正方法技术领域[0001]本发明涉及齿轮测量装置的校正方法,想办法不使用基准量块等机械基准部件就能够校正测头的位置。背景技术[0002]齿轮加工机械是加工被加工齿轮的机械,具体地有通过切削加工来制作齿轮的插齿机和滚齿机,把淬火后的齿轮进行磨削的磨齿机等。[0003]在利用这种齿轮加工机械来批量加工小型的被加工齿轮时,对于加工完的第一件被加工齿轮要进行齿形测量和齿厚测量,然后确认其精度,在精度良好的情况下,加工其余的未加工批量,在精度不好的情况下,则要在修正加工精度之后,再加工其余的未加工批量。不具备齿轮测量功能的齿轮加工机械由于仅能够确认公法线齿厚和滚柱外母线直径,所以第一件有时精度不良。[0004]在所加工的被加工齿轮是大型的情况下,为了能够不出不良品,则一边留有加工余量一边多次反复加工和测量,在最后确认加工精度后才进