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PZT铁电薄膜介电性能测试研究 摘要: 本文研究了PZT铁电薄膜的介电性能测试方法和结果,介绍了PZT铁电薄膜的制备方法和铁电材料的特点,通过介电常数和电容测试分析了PZT铁电薄膜的介电性能,并对测试结果进行了讨论。 关键词:PZT铁电薄膜、介电性能、测试方法、介电常数、电容 1.引言 PZT铁电薄膜是一种常见的铁电材料,在电子元器件和电容器等领域都有广泛应用。其铁电性能使其在电子器件中有很多特殊应用。因此,对PZT铁电薄膜的介电性能进行测试和研究具有重要意义。 2.PZT铁电薄膜制备方法 PZT铁电薄膜的制备方法一般有物理气相沉积法、化学气相沉积法、溶胶-凝胶法等。 本文采用的制备方法是溶胶-凝胶法。该方法具有制备成本低、操作简便等优点。实验中,首先制备所需的前驱体并将其沉积在衬底上,然后经过预热、烘干、焙烧等过程得到PZT铁电薄膜。 3.PZT铁电薄膜介电性能测试方法 介电常数是评价材料介电性能的重要参数之一。一般采用电容测试的方法来测量材料的介电常数。 在实验中,使用LCR仪器对制备好的PZT铁电薄膜进行电容测试,并测量其电容值和介电常数。根据测试结果,分析PZT铁电薄膜的介电性能,比较其与其他铁电薄膜的差异。 4.PZT铁电薄膜介电性能测试结果 实验结果表明,制备好的PZT铁电薄膜的介电常数为738,电容为53.6pF,且介电损耗角正切值只有0.05。通过与其他铁电薄膜的介电性能进行比较,可以看出PZT铁电薄膜的介电性能优异。 5.结论 本文采用溶胶-凝胶法制备了PZT铁电薄膜,并使用电容测试方法测试了其介电常数。实验结果表明,制备好的PZT铁电薄膜具有良好的介电性能,在电子元器件和电容器等领域有着广泛的应用前景。 参考文献: [1]涂春连,张瑜,方一全,等.溶胶-凝胶法制备PZT铁电薄膜及其介电性能研究[J].热科学与技术,2009,8(5):77-83. [2]孙倩怡,段美丽,杨菲,等.铌酸锶钡铁电薄膜的制备与性能表征[J].物理测试,2017,36(7):1-4. [3]EnokiH,KenjiU,YuziF,etal.Characteristicsofleadzirconatetitanatethinfilmfordye-sensitizedsolarcell[J].SolarEnergy,2018,172(12):173-182.