高浓度硼扩散硅片CMP工艺研究.docx
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高浓度硼扩散硅片CMP工艺研究摘要本文深入研究了高浓度硼扩散硅片CMP工艺的相关技术。首先介绍了硅片CMP工艺的概念和原理,接着介绍了高浓度硼扩散技术,包括其原理和工艺步骤。然后阐述了高浓度硼扩散技术在硅片制造过程中的应用和重要性。最后,探讨了高浓度硼扩散硅片CMP工艺优化的方法和存在的问题。关键词:高浓度硼扩散,硅片CMP工艺,技术,应用,优化1.硅片CMP工艺概述化学机械抛光(CMP)技术被广泛应用于硅片制造过程中。硅片CMP工艺能够控制表面粗糙度,提高生产效率和减小制品缺陷率。在硅片CMP工艺中,研
硅片CMP抛光工艺技术研究.pdf
电子工艺技术2010年9月ElectronicsProcessTechnology299硅片CMP抛光工艺技术研究刘玉岭(中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津300220)摘要:介绍了硅片机械-化学抛光技术,重点分析了10.16cm硅片抛光加工过程中抛光液的pH值、抛光压力和抛光垫等因素对硅片抛光去除速率及表面质量的影响。通过试验确定了硅片抛光过程中合适的工艺参数,同时对抛光过程中出现的各种缺陷进行了分析总结,并提出了相应的解决方案。关键词:硅片;化学机械抛光;去除速率;缺陷中图分类号:TN305.2
硅片CMP颗粒度的几个影响因素研究.docx
硅片CMP颗粒度的几个影响因素研究硅片CMP(ChemicalMechanicalPolishing)是一种用于平坦化硅片表面的关键工艺。粒度是CMP过程中的一个重要参数,它可以影响到CMP过程的效率和表面质量。本文将探讨几个影响硅片CMP颗粒度的主要因素。1.研磨液配方研磨液的配方是影响CMP颗粒度的一个重要因素。研磨液中的磨料粒子的大小、形状和浓度都会影响到CMP过程中颗粒度的大小。一般来说,磨料粒子的大小越小,CMP过程中的颗粒度就越小。磨料的形状也会对颗粒度产生影响,一些形状较规则的磨料可以减小颗
单晶硅片硼磷同扩的工艺.pdf
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多晶硅片的磷扩散工艺.pdf
本发明涉及一种多晶硅片的磷扩散工艺,特征是:将制好绒面的多晶硅片清洗干净后放置在扩散炉中进行护散,扩散采用十步扩散步骤:扩散时通入氮气,氮气的通入量为20000ml。多晶硅片扩散后方块电阻为60Ω,将扩散好的多晶硅片加工成电池片。本发明低温扩散能更好的保护扩散炉,延长扩散炉的使用寿命,低温扩散也可以降低电的消耗量,降低太阳能电池的加工成本;通过扩散条件的改变,硅片扩散后的方块电阻比传统工艺提高了10Ω;用本发明所述的扩散工艺做成的电池片的开路电压比以前提高了2mV,电池片的短路电流比以前提高了0.03A,