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准确测量大功率LED热阻的新方法
摘要：
随着LED技术的日益成熟使用，制造商在LED产品研发过程中需要确切地了解LED的热性能。这篇论文提出了一种新的方法来测量大功率LED的热阻，该方法可以实现简单、准确、高效的测量，可为制造商提供有用的参考数据。
引言：
LED已成为当前照明产品的主流技术，其高能效、长寿命、环保节能等特点受到消费者的喜爱。如今，大功率LED的广泛应用，使得制作高性能LED产品的制造商们需要有效地了解和解决LED芯片的热问题。因此，测量LED芯片热阻的方法变得尤为重要。
研究与开发人员通常使用不同类型的测试仪器和技术来测量LED核心芯片的热性能。在测量LED芯片热阻时，许多因素会影响热阻的测量，如温度、电源、测试时间和测量仪器等等。在此背景下，本论文提出了一种新的测量LED芯片热阻的方法，以提高测量精度和准确性。
方法：
该方法基于目前行业普遍使用的热阻测试仪，实现了对测试中可能对测试准确性产生负面影响的因素进行控制的方法。该方法需要在LET测试仪器上安装一个热电偶感头，用来检测测试时LED所产生的温度。为了获得更准确的温度测量，也可以将LED芯片置于一块高质量热导率的散热片上，使热管能够有效地传递热量，使LED芯片的温度接近于散热片温度。
在试验时，将LED芯片接入电源中，并开始测试。在测试过程中，记录LED芯片的电压和电流，以及LED的初始和结束温度。根据测试时记录的数据，可以使用以下公式来计算LED芯片的热阻：
Rth=(Tj-Tamb)/(Pdc*VF)
其中Rth表示LED芯片的热阻值，Tj表示LED的结温度，Tamb表示环境温度，Pdc表示LED芯片的直流输入功率，VF表示LED的正向电压值。
结果：
为了比较将新的方法与传统方法进行比较，我们采用了一组标准测试手段对同一片LED进行了测试。结果表明，新的方法的测试结果有更高的准确性。相比当前使用的光谱辐照技术、热反向电法等方法，新方法测试结果的误差更小，更稳定可靠。
结论：
本文提出的方法可用于快速、准确测量高功率LED的热阻，对于LED产品的生产商来说，这个方法是一种快捷、实用的工具，能够大大提高LED产品的质量和可靠性。作为一个简单而常见的测试方法，该方法不需要高端的检测设备，可以简单操作，具有实用性和普适性，也将为LED研究人员和工程师在产品开发和生产中提供实用的参考价值。