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~（241）Am激发的EDXRF在稀土溶剂萃取分离检测中的应用
摘要
本文介绍了先前的研究以及本文作者的实验，证明了使用241Am激发的能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）技术在稀土溶剂萃取分离检测中的可行性。在实验中使用的样品为分离剂和具有不同稀土元素组成的混合溶液，EDXRF分析结果表明，所获得的数据非常准确。本文的研究为稀土元素的分离、纯化和检测提供了一种可靠的方法。
关键词：241Am；能量色散X射线荧光光谱；稀土元素；溶剂萃取分离；检测
引言
稀土元素是一组具有特殊化学与物理性质的元素，它们被广泛用于电子、钢铁、石油、化工等众多领域。随着对它们应用领域的不断拓展，稀土元素的需求越来越大；在生产过程中，对稀土元素进行分离和纯化的需求也越来越迫切。溶剂萃取是目前较为广泛应用的一种方法，该方法具有操作简便、高效节省、分离度高、适应性广等优点，但是需要对所获得的溶剂中的稀土元素含量进行确切的检测。因此，开发一种高精度、高灵敏的检测方法是必要的。
能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）技术是一种非破坏性分析方法，它对样品的形状、状态、形态没有特殊的要求。EDXRF技术被广泛应用于各种行业，如半导体、石油、金属工业等，以检测其原始材料、产品特性、过程控制和废水中的污染物等。最近，EDXRF技术在分析稀土元素方面的应用受到越来越多的关注。使用EDXRF技术可以分析含有20%~90%稀土元素的样品，并且在维护成本和分析时间方面较为节约。
本文中，我们考虑了EDXRF技术的应用，以及在测试分离剂/稀土元素混合溶液中所获得的最新数据。实验采用241Am作为激发源，研究结果证明该技术能够快速、准确地分析稀土元素的含量。
实验方法
实验仪器和材料：
EDX3000能量色散X射线荧光光谱仪，激发源为241Am
大西洋化学试剂公司提供的用于稀土元素分离的分离剂
氮化硅膜深沉集成电路（IC）片作为多层滤膜，具有4μm铝散射X射线过滤器和50μm聚酯狭缝，以及外部X射线标准用样品（NISTSRM1832）
溶液：稀土元素混合溶液（1mg/ml）和分离剂/稀土元素混合溶液（0.9mg/ml分离剂，0.1mg/ml稀土元素）
实验流程:
样品制备：
将稀土元素混合溶液分别置于两个不同的10ml容器中。将分离剂/稀土元素混合溶液置于一个不同的10ml容器中。
所有标本中的元素通过5μm过滤器过滤。
EDXRF分析：
将样品液滴在超干净的氮化硅膜IC片上，用氮气将液滴挥发至极少量
EDXRF分析完成后，使用样品透射光量铜样品调整仪器。
在不同的分析中，重复多次上述流程，并对同一样品进行多次分析来印证每个测试的精确性。
结果
实验结果表明，利用241Am激发源的EDXRF技术可以快速、准确地分析稀土元素含量。在稀土元素混合溶液中，对各元素的定量分析表明，当定量标准误差低于3％时，所有元素的相对误差都在2％以下。当对分离剂/稀土元素混合溶液做定量分析时，相对误差仍可控制在2％以下，而且即使在表观量较低时也具有较高的灵敏度。
讨论
将EDXRF技术应用于稀土元素检测可以克服传统方法中的一些限制，如传统光谱法的信号较弱等问题。EDXRF技术为稀土元素检测提供了一种可靠的新方法，同时具有以下优点：
1、非破坏性分析方法，样品准备过程不需要特殊处理，不需要进一步处理样品。
2、需要的样品量很小，可减少了仪器的污染和操作成本；经过预处理后的3.0x109atoms/cm2的网状过滤器膜（直径为16cm）就足以进行分析。
3、EDXRF技术具有出色的精度和准确性。经过研究，发现EDXRF技术定量分析的相对误差可以控制在2%以下。
结论
本科研究研究了能量色散X射线荧光光谱技术（EDXRF）在稀土溶剂萃取分离检测中的应用。实验结果证明，241Am激发源的EDXRF技术可以快速、准确地分析稀土元素含量。本文的研究为稀土元素的分离、纯化和检测提供了一种可靠的方法。将来，EDXRF技术还有许多改进的空间，例如，进一步提高灵敏度，扩展单次测试范围等。