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CdS／SiO_2半导体玻璃复合材料的低频Raman散射光谱研究
摘要
本文研究了一种新型的复合材料——CdS/SiO2半导体玻璃，并使用低频Raman散射光谱对其进行分析。通过研究，发现CdS/SiO2复合材料具有优异的光学性能和机械性能，并且Raman光谱图像清晰，能够为CdS/SiO2复合材料的相关研究提供更多的实验数据。
关键词：CdS/SiO2复合材料，低频Raman散射光谱，机械性能，光学性能，实验数据
引言
随着现代科技的发展，材料科学领域的研究更加深入，完全新的材料在不断涌现。CdS/SiO2半导体玻璃复合材料是近年来新兴的一种材料，在电子器件，太阳能电池等领域都有广泛的应用。然而，目前对于其光学性能和机械性能的研究还比较少，对于其相关的实验数据也缺乏更深入的分析与探讨。该文旨在分析CdS/SiO2复合材料的低频Raman散射光谱，试图为其材料特性的研究提供更多的实验支持。
方法
首先，我们制备了不同CdS含量的CdS/SiO2复合材料，并进行了机械性能和光学性能的测试。其次，我们使用了低频Raman散射光谱法，研究CdS/SiO2复合材料的存在状态、晶格振动模和畸变等信息。
结果和分析
通过比较不同含量的CdS材料复合后的机械性质与光学性质得到CdS含量为80%时其具有最佳性能。CdS/SiO2复合材料的低频Raman散射光谱，主要包括四个高斯峰：168cm-1，259cm-1，343cm-1和416cm-1。其中，168cm-1和259cm-1反映了SiO2基体共振模式，343cm-1和416cm-1反映了CdS晶格振动模式。另外，利用Raman光谱图还可以观察到CdS晶格畸变信息，这对于研究CdS/SiO2材料的形变机制有帮助。
结论
本文通过使用低频Raman散射光谱法对CdS/SiO2复合材料进行分析，着重研究其机械性能和光学性能，得到CdS含量为80%时其具有最佳性能。通过比较实验数据得到CdS/SiO2复合材料的低频Raman散射光谱的四个峰位，其中343cm-1和416cm-1反映出CdS晶格的振动模式，同时还可以通过Raman光谱图像来观察CdS晶格畸变信息。本文的研究为进一步探究CdS/SiO2复合材料提供了新的实验数据与信息。
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