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上海交通大学应变测量技术 孙红云1110509105 B1105093 目录 TOC\o"1-3"\h\z\uHYPERLINK\l"_Toc327519160"一、前言 PAGEREF_Toc327519160\h3 HYPERLINK\l"_Toc327519161"二、电测法 PAGEREF_Toc327519161\h3 HYPERLINK\l"_Toc327519162"2.1、金属电阻应变片 PAGEREF_Toc327519162\h3 HYPERLINK\l"_Toc327519163"金属电阻应变片的分类及其结构 PAGEREF_Toc327519163\h3 HYPERLINK\l"_Toc327519164"2.1.2金属电阻应变片工作原理简介 PAGEREF_Toc327519164\h4 HYPERLINK\l"_Toc327519165"2.1.3应变花 PAGEREF_Toc327519165\h5 HYPERLINK\l"_Toc327519166"2.1.4金属电阻应变片电桥电路图 PAGEREF_Toc327519166\h6 HYPERLINK\l"_Toc327519167"2.1.5温度补偿 PAGEREF_Toc327519167\h7 HYPERLINK\l"_Toc327519168"2.2半导体应变片 PAGEREF_Toc327519168\h11 HYPERLINK\l"_Toc327519169"2.2.1半导体应变片的定义及其应用 PAGEREF_Toc327519169\h11 HYPERLINK\l"_Toc327519170"半导体应变片分类 PAGEREF_Toc327519170\h12 HYPERLINK\l"_Toc327519171"2.2.3半导体应变片的优缺点 PAGEREF_Toc327519171\h13 HYPERLINK\l"_Toc327519172"2.3应变电测法的优缺点 PAGEREF_Toc327519172\h13 HYPERLINK\l"_Toc327519173"三、光测法 PAGEREF_Toc327519173\h14 HYPERLINK\l"_Toc327519174"3.1光弹法的分类 PAGEREF_Toc327519174\h14 HYPERLINK\l"_Toc327519175"三维光弹性 PAGEREF_Toc327519175\h14 HYPERLINK\l"_Toc327519176"散光光弹性 PAGEREF_Toc327519176\h14 HYPERLINK\l"_Toc327519177"3.2.3双折射贴片 PAGEREF_Toc327519177\h15 HYPERLINK\l"_Toc327519178"3.1.4全息干涉法 PAGEREF_Toc327519178\h15 HYPERLINK\l"_Toc327519179"3.2光弹实验原理的阐述 PAGEREF_Toc327519179\h15 HYPERLINK\l"_Toc327519180"3.3光纤应变测量技术 PAGEREF_Toc327519180\h16 HYPERLINK\l"_Toc327519181"3.3.1低相干法光纤应变测量原理 PAGEREF_Toc327519181\h16 HYPERLINK\l"_Toc327519182"3.4光测法的主要优点 PAGEREF_Toc327519182\h19 HYPERLINK\l"_Toc327519183"四、应变测量技术举例: PAGEREF_Toc327519183\h19 HYPERLINK\l"_Toc327519184"4.1一种基于微波二极管的动态应变测量装置 PAGEREF_Toc327519184\h19 HYPERLINK\l"_Toc327519185"4.2一种基于光透过测量技术方法: PAGEREF_Toc327519185\h22 HYPERLINK\l"_Toc327519186"五、附录 PAGEREF_Toc327519186\h24  前言 应变测量是材料和结构力学性能试验中的一项基本任务,是了解材料在力学载荷等因素作用下的变形、损伤和失效行