电子显微形貌观察与测量.docx
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电子显微形貌观察与测量背景材料表面的微观几何形貌特性在很大程度上影响着它的许多技术性能和使用功能,近年来随着科技的发展,对各种材料表面精度也提出了越来越高得要求。扫描电子显微镜是目前常见的用于表面形貌观察的分析技术。具有高分辨率,较高的放大倍数;景深效果好,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;试样制备简单;配有X射线能谱仪装置,可同时进行形貌观察和微区成分分析。通过扫描电子显微镜观察材料表面形貌,为研究样品形态结构提供了便利,有助于监控产品质量,改善工艺。观察的主要内容是分析
光学显微形貌观察与测量.docx
光学显微形貌观察与测量项目介绍光学显微镜是利用凸透镜的放大成像原理,将人眼不能分辨的微小物体放大到人眼能分辨的尺寸,其主要是增大近处微小物体对眼睛的张角(视角大的物体在视网膜上成像大)。普通光线的波长为400~700nm,光学显微镜的最佳分辨率是0.2um,人眼的分辨率是0.2mm,所以显微镜的最高放大倍率通常为1000X。一般的光学显微镜有多个可以替换的物镜,这样观察者可以按需要更换放大倍数。因为采用可见光作为光源,光学显微镜对于色彩的识别非常敏感和准确,不仅能观察样品表层组织而且在表层以下的一定范围内
扫描电子显微镜和原子力显微镜对于酵母表面形貌观察的比较分析.docx
扫描电子显微镜和原子力显微镜对于酵母表面形貌观察的比较分析近年来,酵母作为一种重要的微生物,在生物学和生物工程领域得到广泛的应用。酵母表面形貌的研究在酵母相关领域具有重要的意义。扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)技术是目前常用的表面形态观察工具,两者各有特点,下文将分别进行比较分析。1.扫描电子显微镜SEM是一种非常常见的高分辨率显微镜,被广泛用于观察微米尺度的表面形态,同时具有非常高的分辨率和深度。SEM利用电子束照射样本表面,通过反射的电子信号来获取样本表面的信息。该技术广泛用于材料科学
表面形貌测量设备.pdf
一种表面形貌测量设备,其包括:测量臂表格,对于附接有具有不同质量的第二测量臂的各类型的测量臂,该测量臂表格存储整个测量臂的质量、从支撑点到触针的臂长以及测量臂在水平姿态的水平重心和竖直重心;测量臂指定部;倾角检测器,其检测检测器的倾角;和控制器,其从测量臂表格读出指定的测量臂的质量、臂长、水平重心和竖直重心,基于读出的信息和由倾角检测器检测到的倾角来计算测量臂在水平姿态的测量力与测量臂在倾斜姿态的测量力之间的差,并调节测量力。
基于相位测量轮廓术的煤炭形貌测量PPT.ppt
基于相位测量轮廓术的煤炭形貌测量本文采用KineticMonte-Carlo方法对1+1维BallisticDeposition(BD)模型空洞的动力学标度行为进行了大量的数值模拟研究。制备了羧基化多壁碳纳米管修饰电极(MWNT-COOHCME)。结果表明,该修饰电极对嘌呤化合物具有良好的电催化行为。与高效液相色谱(HPLC)联用,该修饰电极可用于安培检测次黄嘌呤(HX)和黄嘌呤(X)两种化合物。在一定浓度范围内,HX和X的浓度分别与氧化峰的峰电流呈良好的线性关系,线性相关系数分别为0.9999和0.99