SEM和TEM使用分析举例.docx
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SEM和TEM使用分析举例.docx
SEM和TEM举例分析摘要:本文主要介绍Pd/MOF-5材料的扫描电镜[1]和透射电镜照片和以Zn(NO3)2和Zn(O2CCH3)2为锌源所合成的MOF-5(N)和MOF-5(A)晶体的SEM照片,MOF-5(N)晶种层和MOF-5(A)晶种层表面和截面的SEM照片[2]。Pd/MOF-5材料的扫描电镜和透射电镜照片如图1和图2所示。从SEM照片中可以看到,催化剂的物相较均一。图2中较暗的球状颗粒应为Pd的纳米粒子,其余部分为MOF-5负载材料,这是由材料中不同区域的原子序数衬度不同造成的。TEM的ED
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1扫描电子显微镜(SEM)TransmittanceElectronMicroscopy透射电子显微镜(TEM)ScanningElectronMicroscopy电镜的基本类型直接透射电子(1)透射电镜TEM透射电镜图片类似于投影图,立体感较扫描电镜图差,对于样品厚度有严格要求,主要用于样品内部结构的分析。(2)扫描电镜SEM通过反射电子或二次电子对样品表面进行分析的电镜技术,简称为扫描电镜ScanningElectronMicroscopy,SEM。(2)扫描电镜SEM与透射电镜相比,扫描电镜图片具有
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光学显微镜、TEM、SEM成像原理比较(转自海龙小站)已有8646次阅读2007-10-1008:24|个人分类:催化网络转贴(一)、透射电子显微镜1、基本原理在光学显微镜下无法看清小于0.2µm的细微结构,这些结构称为亚显微结构(submicroscopicstructures)或超微结构(ultramicroscopicstructures;ultrastructures)。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜(tr
TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜场知识交流.pdf
TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜,场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。AES是指能谱,主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的。TEM:透射电子显微镜(英语:Transmissionelectronmicroscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而