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§7.3X射线多晶衍射法粉末衍射图的获得2、衍射仪法粉末衍射的应用2、衍射图的指标化3、晶粒大小的测定§7.4电子衍射法简介7.4.1电子衍射法与X射线衍射法比较7.4.2电子衍射法测定气体分子的几何结构例如:用40000V的电子射线得到CS2蒸气的衍射图,其中强度最大的衍射角分别是2.63o、4.86o、7.08o。已知CS2是对称的直线分子,求C-S键长。7.4.3低能电子衍射法在表面分析中的应用§7.5X射线荧光光谱分析Mo(Z=42):(特征波长和相对强度I) K1(0.0709nm)100;L1(0.5406nm)100; K2(0.0713nm)50;L2(0.5414nm)12; K1(0.0632nm)14;L1(0.5176nm)50。2、定量分析[2]不均匀效应:对于多相合金、粉末等不均匀材料,X射线荧光强度与颗粒大小有关,颗粒大吸收大,颗粒小荧光强。(2)定量分析方法3、应用7.5.2X射线荧光光谱仪(1)X射线发生器(2)分光系统(3)检测器[2]闪烁计数器:它由闪烁晶体和光电倍增管组成。当X射线穿过铍窗进入闪烁晶体时,闪烁晶体吸收X射线并放出一定数量的可见光电子,再由光电倍增管检测,转换成电脉冲信号。脉冲高度与入射X射线光子能量成正比。(4)记录系统2、能量色散型X射线荧光光谱仪波长色散型