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04十一月2024前言查检表——收集数据资料; 层别法——对收集到的数据分门别类进行统计; 排列图——确定主导因素(又称柏拉图); 因果图——寻找引发结果的原因(又称鱼骨图); 散布图——展示变数据之间的相关性; 直方图——展示数据的分布形态; 控制图——对所出现的变差的特殊原因提供统计信号。 旧QC七大手法也可以简称:5图1表1法 关联图 亲和图 系统图 矩阵图 矩阵数据解析法 过程决策计划图 箭线图一、查检表一、查检表一、查检表设备一级保养点检表查检表示例二、层别法二、层别法二、层别法三、排列图(柏拉图)三、排列图(柏拉图)三、排列图(柏拉图)三、排列图(柏拉图)三、排列图(柏拉图)三、排列图(柏拉图)三、排列图(柏拉图)三、排列图(柏拉图)三、排列图(柏拉图)四、鱼骨图(因果图、石川图)四、鱼骨图(因果图、石川图)四、鱼骨图(因果图、石川图)四、鱼骨图(因果图、石川图)四、鱼骨图(因果图、石川图)五、散布图五、散布图五、散布图五、散布图五、散布图五、散布图五、散布图六、直方图六、直方图六、直方图六、直方图六、直方图基本图型解释: 直方图可反映过程能力: 1、如果对给定尺寸的SL,过程均值CL与SL越靠近,说明过程的准确性越高,过程能力越强。 2、如果图形分布宽度越窄,说明群体值与均值CL越靠近,说明过程的精密度越高,过程能力越强。 3、对该过程的综合过程能力,既要准确度高,又要精密度高,所以要将两者同时纳入过程能力的描述,才可能是对过程能力的全面描述。 基本图型解释: 直方图可反映产品不良率: 如果给定了规格上线和规格下线,我们可以从直方图上看出有多少范围的点落在了规格线之外,也就可估算出产品的不良率。 双峰型(二山型): a.说明测量的数据有可能来源于两个镀缸; b.在收集数据的过程中,过程已被做了大的调整,如电流强度由小调大,电镀时间由短变长。 离岛型: 可能的原因如下: a.数据记录错误,如将168记成268; b.经过数据全检后有个别遗留; c.过程中偶有变异,如有一组镀件被远远超长时间的电镀; d.测量过程在偶有大的测量误差。 e.制作直方图时,数据太少,分组太多。 高原型: 一个典型的原因是几个镀缸的镀件一起测量,来制作直方图。 七、控制图七、控制图七、控制图七、控制图七、控制图七、控制图七、控制图七、控制图七、控制图例如,UCL与LCL控制线就是根据过程过去的结果所判明的制程能力制作的,它延伸到以后,我们只需将目前的品质特性按时间顺序描上控制图中,就知道目前的过程有无变异,另外从线条的趋势可以判定以后近时段的品质达成状况。 对于产品质量特性数据,可分两类: 1、计量型数据:时间、长度、含量、强度、产出率、重量、体积等连续性数据。 2、计数型数据:不良品个数、缺点数等间断性的数据。 对每一种数据,都有多种控制图,这里只介绍计量型的Xbar-R图和计数型的P图,其它的控制图可按此二种控制图的思想,变通则可,每个控制图各有其特点。 A、Xbar-R:平均数全距控制图 将两个控制图合在一起用: 一个是各组数的平均数控制图:Xbar图,即控制各组质量特性分布的平均值的变化。(准确度的变化) 一个是各组数的组距控制图:R图,即控制各组质量特性分布变异的变化,即离散度的变化。(精密度的变化) 既控制了准确度,又控制了精密度,即测量的数据一定可以更接近目标值。这时Xbar-R图的优点所在。Xbar-R图定义: n子组大小 X个别数据 X子组数据的平均值 X所有子组平均值的平均,在X图中的中间线 R子组中数据的极差(最大减最小) R所有子组极差的平均数,在R图中的中间线 UCL控制上限 LCL控制下限 编制X-R图的步骤 1、决定子组大小(n=3,4,5) 2、收集25组以上按时间顺序的样本(最少100个单值读数) 3、计算每组样本的平均数X 4、计算每组样本的极差数R 5、计算X的平均数X (X图的中间线) 6、计算R的平均数R(R图的中间线) 7、计算控制上下限 X图R图 UCLX=X+A2RUCLR=D4R LCLX=X-A2RLCLR=D3R 8、绘上图表,X和R的数据点必须在同一竖线上 9、分析图表找出特特殊原因,采取纠正行动 10、继续收集数据,监控过程,不断改进 七、控制图七、控制图工控制图的判读 预备概念:RUNS——链 —连续7点或以上在中间线之上或之下。 —连续7点或以上向上行或向下行。 一、受控状态下的控制图特点: 1.不会有上述的链出现。 2.一般地,大约2/3的描点应落于控制限的中间1/3区域内,大约1/3的点落在的其外的2/3的区域。 3.大约1/150的点落在控制限之外(可以是合理的)。 控制图的判读 二、非受状态下的控制图 1.任何超出控制限的点。