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Proe实体特征——扫描特征 前面介绍的拉伸特征和旋转特征是两种最常用的特征,它们具有相对规则的几何形状。将创建拉伸特征的原理作进一步的推广,将拉伸的路径由垂直于草绘平面的直线推广成任意的曲面,则可以创建一种形式更加丰富多样的实体特征,这就是本节中所要介绍的扫描特征。 扫描,就是沿一定的扫描轨迹,使用二维图形创建三维实体的过程。拉伸特征和旋转特征都可以看作是扫描特征的特例,拉伸特征的扫描轨迹是垂直于草绘平面的直线,而旋转特征的扫描轨迹是圆周。 图5-38扫描特征的两大要素 图5-39扫描实体特征由图5-38可见,扫描特征中一共有两大基本元素:扫描轨迹和扫描截面。将扫描截面沿扫描轨迹扫描后,即可创建扫描特征。所创建的特征的横断面与扫描剖面完全相同,特征的外轮廓线与扫描轨迹相对应,特征的外轮廓线与扫描轨迹相对应,如图5-39所示。 扫描对话框 单击【插入】→【扫描】后,系统弹出如图5-40所示的菜单。扫描特征的种类非常多,但它们都具有前面所说的两大基本要素。下面就以图541所示的“伸出项:扫描”对话框为例,介绍扫描轨迹和扫描截面的定义方法。 单击【插入】→【扫描】→【扫描伸出项】后,系统自动弹出如图5-41所示所“伸出项:扫描”对话框。 图5-40扫描种类 图5-41“伸出项:扫描”对话框1.扫描轨迹定义 在“伸出项:扫描”对话框中,选中“轨迹”后,单击【定义】,系统弹出如图5-42所示的“扫描轨迹”菜单。“扫描轨迹”菜单中有两个选项,分别为【草绘轨迹】和【选择轨迹】。 (1)草绘轨迹 如果用户需要使用草绘的方法创建扫描轨迹,则请单击【草绘轨迹】。系统自动弹出如图5-45所示的“设置草绘平面”菜单。用户可以在此选择草绘轨迹的草绘平面。单击【使用先前的】,则系统使用使用与创建前一个特征相同的草绘平面;单击【新设置】后,使用新的草绘平面设置。 在“设置平面”菜单中,用户可以单击【平面】,直接使用已经存在的平面作为平面;也可以单击【产生基准】,系统弹出如图5-43所示的“基准平面”菜单,用于创建临时基准平面。无论使用哪种草绘平面,最终都是进入草绘环境中,绘制任意的二维扫描轨迹。 说明——关于临时基准平面 临时基准和前一章中所讲的基准平面图不同。临时基准平面在需要时偶临时创建,当相应的设计完成后自动撤销,不再显示在设计界面上,也不保留在模型树窗口中。 临时基准是对基准的补充。在设计中,如果某个基准需要多次重复地使用,一般情况下会使用基准,但如果某一基准只使用一次,则使用临时基准是一个更好的办法。合理使用临时基准,不光使设计界面整洁明了,而且还有利于系统管理。 确定草绘平面后,还需要定义草绘视图的方向及草绘参考平面。 如图5-44所示,在“方向”菜单中可以设置草绘视图方向。当图形窗口中箭头所指方向与所需要草绘视图方向相同时,直接点击【正向】即可;当图形窗口中箭头所指方向与所需要草绘视图方向相反时,点击【反向】,图形窗口中的箭头反向,再点击【正向】即可。 如图5-46所示,在“草绘视图”菜单中设置草绘参考平面。点击【顶】、【底部】等选项后,可以定义相应的草绘参考平面,若使用缺省设置,直接点击【缺省】即可。 使用【草绘轨迹】选项所创建的扫描轨迹只能是二维曲线,对于三维扫描曲线则无能为力。这时候就需要使用【选取轨迹】选项。 图5-42“扫描轨迹”菜单 图5-45“基准平面”菜单 图5-44“方向”菜单 图5-43“设置平面”菜单 图5-46“草绘视图”菜单(2)选取轨迹 单击【选取轨迹】选项后,系统弹出如图5-47所示的“链”菜单,可以选取已经存在的二维或者三维曲线作为扫描轨迹。例如,可以选取三维实体模型的边线、基准曲线等作为扫描轨迹。“链”菜单中各选项的意义为: 依次:按照任意顺序选取实体边线或者基准曲线作为轨迹线; 相切链:一次选中我个相互相切的边线或者基准曲线作为轨迹线; 曲线链:选取基准曲线作为轨迹线。当选取指定的基准曲线后,系统还会自动选取所有与之相切的基准曲线作为轨迹线。 边界链:选取曲面特征的某一边线后,可以一次选中与该边线相切的边界曲线作为轨迹线。 曲面链:选取某曲面,将其边界曲线作为轨迹线; 目的链:选取环形的边线或者曲线作为轨迹线。 当选中轨迹线后,还可以对选取的轨迹线进行操作: 选取:选取轨迹线; 撤消选取:放弃已经选出的轨迹线; 修剪/延伸:对已经选出的轨迹线进一步裁剪或延伸以改变其形状和长度; 起始点:指定扫描轨迹线的起始位置。 当所有扫描轨迹的参数定义完成后,单击【完成】,系统自动进行草绘环境,绘制扫描截面。 2.扫描特征属性设置 属性参数用于确定扫描实体特征的外观以及与其他特征的连接方式。 (1)端点属性 如果在一个已经存在的实体特征上创建扫描实体特征,同时扫描轨迹线为开放曲线,则需要在如图5-48所示的“端