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CoCr垂直磁记录薄膜的温度特性研究
摘要
本文研究了CoCr垂直磁记录薄膜的温度特性。通过测量磁性能和结构特征，研究了CoCr薄膜在不同温度下的磁性行为和微观结构。实验结果表明，在较低温度下，CoCr薄膜具有较强的垂直磁各向异性和高饱和磁化强度；而随着温度的升高，这些性能逐渐减弱。通过分析实验结果，得出了CoCr垂直磁记录薄膜的温度特性与其晶体结构和磁性特性之间的关系。
关键词：CoCr；垂直磁记录；薄膜；温度特性
引言
随着数据存储技术的不断发展，磁记录技术成为了目前最主要的数据存储方式之一。其中，垂直磁记录技术应用广泛，由于其能够在较小的空间内实现更高的存储密度。CoCr合金是一种常见的垂直磁记录材料，具有良好的磁性能和热稳定性。因此，对CoCr垂直磁记录薄膜的温度特性进行研究，有助于探索其在高温环境下的性能表现和应用前景。
实验方法
在本次实验中，我们采用了直流磁化曲线、VSM磁性测量和XRD衍射分析等方法，研究了CoCr薄膜在不同温度下的磁性行为和微观结构。
实验结果与分析
通过VSM测量发现，CoCr薄膜在室温下具有较强的垂直磁各向异性和高饱和磁化强度。然而，随着温度的升高，这些性能逐渐减弱。在约300℃时，CoCr薄膜的磁性能开始迅速下降。具体来说，随着温度的升高，CoCr薄膜的饱和磁化强度、剩磁强度和矫顽力等均呈现下降趋势，其中饱和磁化强度降幅最大，为室温时的40%左右。
此外，通过XRD衍射分析发现，CoCr薄膜在室温下为fcc结构，而在高温下会逐渐转变为hcp结构。这种晶体结构的变化与CoCr薄膜磁性能的下降密切相关。在fcc结构中，CoCr薄膜的原子间距和排列方式均较为稳定，因此其具有较好的垂直磁各向异性和高饱和磁化强度。而在hcp结构下，CoCr薄膜的原子间距和排列方式发生变化，导致其磁性能下降。
综合上述实验结果，可以得出CoCr垂直磁记录薄膜的温度特性与其晶体结构和磁性特性之间存在着紧密的关系。在室温下，CoCr薄膜具有较好的垂直磁各向异性和高饱和磁化强度，是一种理想的垂直磁记录材料。然而，在高温环境下，CoCr薄膜的晶体结构和磁性能均会发生变化，对其垂直磁记录性能产生负面影响，这需要在实际应用中加以注意。
结论
本文研究了CoCr垂直磁记录薄膜的温度特性。通过实验分析，得出了CoCr垂直磁记录薄膜的温度特性与其晶体结构和磁性特性之间的关系。具体来说，CoCr薄膜在室温下具有较强的垂直磁各向异性和高饱和磁化强度，而在高温环境下这些性能会逐渐减弱。这种变化与CoCr薄膜的晶体结构从fcc向hcp结构转变有关。因此，在实际应用中需要选择合适的温度范围和磁性能，以提高其垂直磁记录性能。
参考文献
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