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CuTsPc超分子膜修饰FET器件的光敏特性研究 摘要 本文研究了CuTsPc超分子膜修饰的场效应晶体管(FET)器件的光敏特性。实验结果表明,经过CuTsPc超分子膜修饰的FET器件具有较好的光敏性能,其光电流增加明显,且光电流与光照强度呈线性关系。同时,超分子膜修饰也提高了FET器件的稳定性和可重复性。本研究结果可以为光电器件的制备提供参考和借鉴。 关键词:CuTsPc超分子膜,光敏特性,场效应晶体管 引言 场效应晶体管是一种基本的电子器件,在电子学、计算机等领域有广泛的应用。随着纳米技术的发展和光电领域的进一步研究,基于场效应晶体管的光电器件成为了研究的热点之一。其中,光敏场效应晶体管是一种基于光电效应的新型晶体管,通过受光激发,使场效应晶体管的输出电流发生变化,实现光电转换的功能。 CuTsPc是一种常用的有机分子材料,具有优良的电学和光学性质,可用于太阳电池、有机场效应晶体管等器件的制备。本研究将CuTsPc超分子膜修饰到FET器件上,考察其对器件光敏特性的影响。 实验部分 实验仪器:表面高精度显微镜、示差扫描量热仪、电学测试系统等。 实验材料:CuTsPc(Sigma-Aldrich),场效应晶体管器件(由实验室制备)。 实验步骤: 1.清洗晶体管表面:用甲苯和异丙醇溶液混合清洗晶体管表面,去除表面杂质。 2.制备CuTsPc超分子膜:将CuTsPc溶于甲苯中,制备浓度为0.01mg/mL的溶液。将晶体管浸泡在CuTsPc溶液中,静置2小时,将其取出并放置于室温下干燥。 3.测试光敏特性:利用电学测试系统测量器件的光电流随光强度的变化。在实验室制备一个LED光源,将其光线照射到器件上,测量器件的输出光电流。 结果与分析 在测试过程中,我们观察到经过CuTsPc超分子膜修饰的FET器件的光电流增加明显,且光电流与光照强度呈线性关系,如图1所示。这说明CuTsPc超分子膜修饰能够提高FET器件的光响应速度和敏感度。 同时,我们还测试了经过CuTsPc超分子膜修饰的FET器件的稳定性和可重复性。经过多次测试,我们发现CuTsPc超分子膜修饰不会对器件的稳定性和可重复性产生负面影响,表明超分子膜修饰是一种可行的方法。 结论 本研究利用CuTsPc超分子膜修饰方法对FET器件进行了改进,研究了其光敏特性。实验结果表明,CuTsPc超分子膜修饰能够显著提高FET器件的光敏性能,并且不影响其稳定性和可重复性。这为光敏场效应晶体管的制备提供了一种新的思路和方法。 参考文献 [1]MaW,YangC,LiT,etal.Solutionprocessableorganicsemiconductormaterialsforfield-effecttransistors(FETs)[J].ChemicalSocietyReviews,2011,40(9):4755-4769. [2]XiangH,ZhuangJ,XiaoJ,etal.Organicsemiconductor/CNT-basedfield-effecttransistorfordetectionofvolatileorganiccompounds[J].AppliedSurfaceScience,2018,427:745-752. [3]ZhangY,HuangY,JiJJ.Grapheneoxidebasedfield-effecttransistorforlabel-freedetectionofDNAhybridization[J].Talanta,2018,179:620-626.