轻敲式AFM探针驱动方法研究.docx
快乐****蜜蜂
在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便
相关资料
轻敲式AFM探针驱动方法研究.docx
轻敲式AFM探针驱动方法研究摘要:原子力显微镜(AFM)是一种常用的材料表面形貌分析技术。AFM探针的驱动方法对其性能和性能影响非常大。本文重点研究了轻敲式AFM探针驱动方法。通过对比实验和数值模拟,探究了该驱动方法的优缺点,并讨论了未来的发展方向。1.引言原子力显微镜(AFM)是20世纪80年代发明的一种高分辨率的表面形貌分析仪器。其工作原理基于用锐针探针在样品表面扫描,并通过在探测器上测量相互作用力的变化来测量样品表面的形貌。AFM具有非常高的分辨率和灵敏性,广泛应用于材料科学、物理学、化学及生物医学
基于轻敲模式AFM的纳米振动表征方法.pdf
第32卷第4期压电与声光VoL32No.42010年8月PIEZ0ELECTRICS&AOOUST00PTICSAug.2010文章编号:1004—2474(2010)04—0677—05基于轻敲模式AFM的纳米振动表征方法徐临燕,栗大超,刘瑞鹏,邱晗,傅星,胡小唐,张文栋。(1.天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072;2.天津航海仪器研究所,天津300131;3.中北大学电子测试技术国家重点实验室,山西太原030051)摘要:针对纳米振动测量方法中存在的间接性、低分辨率、低带宽等局限
AFM轻敲模式下扫描参数对成像质量影响的研究.docx
AFM轻敲模式下扫描参数对成像质量影响的研究随着扫描探针原子力显微镜(AFM)技术的发展,人们对其在准确表征材料表面形貌和物理性质方面的兴趣越来越高。在AFM应用中,扫描参数是影响成像质量的重要因素之一。本篇论文将探讨AFM轻敲模式下扫描参数对成像质量的影响。AFM轻敲模式是一种基于光学散射的新型AFM成像模式,通过控制扫描探针的强制振荡,将样品表面的响应信号转换为可视化图像。在使用AFM轻敲模式进行成像时,通常需要调整控制参数,以获得最佳的成像质量。首先,扫描速度是影响AFM成像质量的重要因素之一。在扫
AFM扫描探针的研究的任务书.docx
AFM扫描探针的研究的任务书研究任务书研究题目:AFM扫描探针的研究1.研究背景和目的原子力显微镜(AtomicForceMicroscopy,AFM)是一种基于热力学性质的扫描隧道显微镜技术。AFM通过扫描样品表面来测量其形貌和物理性质,具有高分辨率、高灵敏度、适用于多种材料等优点,因此在纳米科学、生物医学、材料科学等领域得到了广泛应用。本次研究旨在对AFM扫描探针进行深入的学习和研究,探究其工作原理、特性及应用,并通过实验对其进行性能评估和优化,为后续的实际应用提供理论指导和技术支持。2.研究内容(1
轻敲模式下AFM动力学模型及能量耗散机理研究.docx
轻敲模式下AFM动力学模型及能量耗散机理研究随着原子力显微镜(AFM)的广泛应用,对其动力学行为和能量耗散机理的研究也越来越受到关注。其中,轻敲模式是一种常用的测量技术,在表征材料表面和纳米尺度力学性质方面具有重要作用。本文将探讨轻敲模式下的AFM动力学模型以及能量耗散机理。首先,轻敲模式下的AFM动力学模型可以分为两个部分:激励和响应。在激励方面,扫描探针受到振动驱动,发生微小振动。在响应方面,材料表面的反馈会在扫描探针上产生力信号,并被转化为在探针上的位移信号。因此,轻敲模式的反馈信号是探针动态与材料