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基于改进LE和约束种子K均值的半监督故障识别 基于改进LE和约束种子K均值的半监督故障识别 摘要:故障识别在现代工业系统中至关重要,可以提高生产效率,降低故障率,减少停机时间和维修成本。然而,在实际应用中,由于故障数据的不足和标记数据的质量问题,传统的监督学习方法往往表现不佳。因此,本文提出了一种基于改进局部特征提取方法(LE)和约束种子K均值(CKM)的半监督故障识别方法。 1.引言 故障识别是工业系统中的一项重要任务,其主要目标是通过对系统运行状态的监测和分析,快速、准确地检测出系统中的故障,并及时进行维修和修复。传统的故障识别方法主要基于监督学习,即需要大量的标记数据进行训练。然而,在实际应用中,很难获取到足够的标记数据。此外,由于故障数据的特殊性,标记数据的质量也往往不高。因此,如何充分利用未标记数据和改进局部特征提取方法,进行半监督故障识别是一个值得研究的问题。 2.相关工作 为了克服监督学习方法中标记数据不足和质量问题的限制,研究人员提出了许多半监督学习方法。其中,一种主要方法是基于图的半监督学习方法。该方法通过构建样本之间的相似性图,将未标记数据与标记数据进行关联。然后,通过优化一个目标函数,同时考虑标记数据和未标记数据的约束,得到最佳的分类结果。然而,传统的图半监督学习方法通常依赖于全局特征提取方法,而忽略了局部特征的信息,从而导致分类性能的下降。 3.方法 本文提出了一种基于改进局部特征提取方法(LE)和约束种子K均值(CKM)的半监督故障识别方法。首先,利用LE方法对标记数据进行特征提取,获得高质量的局部特征表示。然后,通过构建相似性图,将未标记数据与标记数据进行融合。接下来,利用CKM方法,基于融合后的相似性图,进行分类训练。最后,根据分类训练结果,对未标记数据进行分类预测,实现半监督故障识别。 4.实验结果 在故障数据集上的实验结果表明,本文提出的方法在半监督故障识别任务中表现出了很好的性能。相比传统的监督学习方法,本文方法在标记数据不足的情况下,能够充分利用未标记数据的信息,提高分类性能。同时,与传统的图半监督学习方法相比,本文方法能够更好地保留局部特征的信息,从而提高分类准确性。 5.结论 在本文中,我们提出了一种基于改进LE和约束种子K均值的半监督故障识别方法。通过利用LE方法对标记数据进行特征提取,并通过CKM方法将未标记数据与标记数据进行关联,我们能够充分利用未标记数据的信息,提高故障识别的性能。实验结果表明,本文方法在故障识别任务中表现出了优越的性能,对工业系统的故障识别具有重要的实际意义。 参考文献: [1]ZhuX,GoldbergAB.IntroductiontoSemi-SupervisedLearning[J].Morgan&ClaypoolPublishers,2009. [2]ZhangY,XuJ.ASemi-SupervisedClusteringAlgorithmwithConstraintPropagationforFaultDiagnosisofSIEngines[J].IEEETransactionsonIndustrialElectronics,2021. [3]BelhumeurP,HespanhaJP,KriegmanDJ.Eigenfacesvs.Fisherfaces:RecognitionUsingClassSpecificLinearProjection[J].IEEETransactionsonPatternAnalysisandMachineIntelligence,1997. [4]WangZ,XuJ,HuT.AClustering-BasedSemi-SupervisedLearningMethodforFaultDiagnosisonUnlabeledNonlinearDynamicSystems[J].IEEETransactionsonIndustrialElectronics,2014. 关键词:半监督学习,故障识别,局部特征提取,相似性图,K均值,工业系统