基于域相关性与流形约束的多源域迁移学习分类算法.docx
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基于多源域深度迁移学习的液晶面板缺陷检测算法标题:基于多源域深度迁移学习的液晶面板缺陷检测算法摘要:液晶面板作为显示设备的重要组成部分,在制造过程中常常会出现各种缺陷。因此,开发一种高效准确的液晶面板缺陷检测算法对于提高生产效率和产品质量至关重要。然而,传统的缺陷检测方法通常需要大量手工提取特征,且在面对不同源域的数据时效果较差。为了解决这些问题,本文提出了一种基于多源域深度迁移学习的液晶面板缺陷检测算法。关键词:液晶面板,缺陷检测,深度迁移学习,多源域一、引言随着科技的不断发展,液晶面板在消费电子产品中
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