X射线光储材料BaFCL的正电子湮没研究-豆柴文库

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X射线光储材料BaFCL的正电子湮没研究 Title:PositronAnnihilationStudiesofX-rayStorageMaterialBaFCL Abstract: Positronannihilationspectroscopyhasemergedasapowerfultechniquetoinvestigatethedefectstructureandelectronicpropertiesofmaterials.Inthispaper,weexploretheapplicationofpositronannihilationspectroscopyinunderstandingtheX-raystoragematerialBaFCl.Theinvestigationaimstoshedlightonthedefect-relatedpropertiesandpotentiallyimprovethematerial'sperformanceasanX-raystoragemedium. Introduction: BaFClhasgarneredconsiderableattentioninrecentyearsduetoitspotentialuseasanX-raystoragematerial.X-raystoragematerialsplayacrucialroleinapplicationssuchasmedicalimaging,non-destructivetesting,andsecurityscreening.However,theperformanceofBaFClasanX-raystoragematerialishinderedbythepresenceofdefectsandimpurities.Theunderstandingofthedefectnatureandtheireffectonmaterialpropertiesisessentialforoptimizingtheirperformance. Methodology: Positronannihilationspectroscopy,anon-destructivetechnique,wasemployedtostudythedefectstructureofBaFCl.Positrons,beingtheantimattercounterpartofelectrons,annihilatewithelectronsinthematerial,providingvaluableinformationabouttheelectronicpropertiesandthepresenceofdefects.Thepositronannihilationlifetimespectroscopy(PALS)wasconductedtodeterminethepositronlifetime,whilepositronannihilationDopplerbroadeningspectroscopy(PADB)wasusedtoinvestigatetheDopplerbroadeningparameterSandthecoreelectrondensity. ResultsandDiscussion: ThePALSmeasurementsindicatethepresenceoftwodistinctpositronlifetimecomponentsinBaFCl.Theshorterlifetimecomponentisattributedtopositronannihilationwiththebulkelectrons,whilethelongerlifetimecomponentcorrespondstopositronannihilationwithdefectsandimpuritieswithinthematerial.Theidentificationandcharacterizationofthesedefectsprovidevaluableinsightsintothematerial'sdefectstructureandelectronicproperties. ThePADBmeasurementsrevealimportantinformationabouttheelectronicstructureofBaFCl.TheDopplerbroadeningparameterSisknowntobesensitivetochangesintheelectronicdensityofstat

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