TSV转接板2.5D封装的协同设计、仿真与测试.docx
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TSV转接板2.5D封装的协同设计、仿真与测试随着电子产品的广泛应用,越来越多的电子器件被迫要精简化、高速化和多功能化,并且这些设备的封装技术也不断地得到提升,如今2.5D封装技术已成为集成电路封装的主流技术之一。针对2.5D封装技术中的TSV转接板,本论文从协同设计、仿真和测试三个方面进行了深入探讨。1.协同设计协同设计是集成电路设计中不可或缺的一环。常见的协同设计方式有两种:同步协同和异步协同。同步协同方式采用在线交互来保证设计的正确性,但需要设计师之间具有高度的协同性;异步协同方式则是通过设计数据交
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TSV转接板2.5D封装的协同设计、仿真与测试的中期报告中期报告:TSV转接板2.5D封装的协同设计、仿真与测试项目背景:TSV(Through-SiliconVia)技术是目前3DIC封装技术的核心,并已被广泛应用于各种芯片封装和集成电路设计中。为了更好地支持TSV技术的实现,本项目旨在研究TSV转接板2.5D封装的协同设计、仿真与测试。进展概述:在项目进行的头三个月中,团队完成了以下工作:1.研究调研了当前2.5D封装和TSV技术的最新进展,包括设计、封装和测试等方面的发展以及行业领先者的经验和成果。
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TSV转接板2.5D封装的协同设计、仿真与测试的任务书任务书:TSV转接板2.5D封装的协同设计、仿真与测试一、背景介绍随着电子产品的不断更新迭代,芯片封装技术也在不断升级。而2.5D封装技术是目前最为流行的一种芯片封装技术之一,它具有处理器性能强、功耗低、可维护性好等优点。在2.5D封装技术中,TSV(TroughSiliconVia)技术是至关重要的一环,它能够实现跨芯片的信号传输和能量供应。因此,对TSV转接板2.5D封装的研究和开发具有重要的意义。二、任务目标本任务的目标是设计、仿真和测试一种TS
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2.5D硅转接板TSV结构研究2.5D硅转接板TSV结构研究摘要:随着现代芯片设计的高度集成化和多功能化,芯片之间的互联问题变得愈发重要。2.5D硅转接板采用TSV(Through-siliconVia)结构作为芯片之间的互联方式,能够有效地解决高速信号传输和功耗问题。本论文通过对2.5D硅转接板TSV结构的研究,分析了其设计和制备的关键技术,并对其应用前景进行了展望。1.引言2.5D硅转接板是一种新型的芯片互联技术,通过在硅片上开孔、填充导电材料,并形成薄膜结构,实现芯片之间的互联。TSV结构是2.5D
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应用子模型的高密度大规模2.5D转接板内TSV热应力仿真误差分析2.5D转接板(2.5DInterposer)是一种新型的电路板设计,它是针对高密度集成电路设计的一种解决方案。2.5D转接板的设计使用了多个芯片堆叠的技术,从而实现了高密度集成电路设计。2.5D转接板的设计中,TSV(Through-SiliconVia,通过硅通孔)的设计是非常重要的。在2.5D转接板内,每个芯片都有多个TSV,TSV的数量可以达到上百万个。在2.5D转接板的设计中,TSV之间的热应力是一个非常重要的问题,因为TSV之间的