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ZnOS合金薄膜及S-N共掺杂p型ZnO薄膜的结构与光电性能研究 标题:ZnOS合金薄膜及S-N共掺杂p型ZnO薄膜的结构与光电性能研究 摘要: 本研究以ZnOS合金薄膜及S-N共掺杂p型ZnO薄膜为研究对象,通过多种表征技术分析了其结构和光电性能。研究结果表明,S-N共掺杂提高了ZnO薄膜的导电性能,同时优化了能带结构,进一步提高了其光电转换效率。本研究为进一步探索p型ZnO材料的应用提供了理论和实验基础。 关键词:ZnOS合金薄膜,S-N共掺杂,结构,光电性能 1.引言 ZnO作为一种具有广泛应用前景的半导体材料,其p型导电性能的提升一直是研究的热点。近年来,通过合金化和共掺杂等方法可以有效地改善ZnO薄膜的电学性质,进而优化其光电转换效率。本研究旨在探索S-N共掺杂对ZnO薄膜结构和光电性能的影响。 2.实验方法 (1)材料制备:采用磁控溅射法在石英基片上制备ZnOS合金薄膜和S-N共掺杂p型ZnO薄膜; (2)结构表征:采用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)等技术对样品的晶体结构、表面形貌等进行分析; (3)光学性能测试:采用光电池测试系统对样品的光电转换效率、光吸收率等进行测量。 3.结果与讨论 (1)结构分析:XRD分析结果显示,ZnOS合金薄膜和S-N共掺杂p型ZnO薄膜均为六方纤锌矿结构,晶体质量优良。SEM观察显示,薄膜表面平整且致密,没有明显的裂纹和缺陷。 (2)光电性能测试:S-N共掺杂p型ZnO薄膜的载流子浓度明显高于ZnOS合金薄膜,表明共掺杂增加了载流子的浓度。光电转换效率测试结果显示,S-N共掺杂p型ZnO薄膜的光电转换效率明显高于ZnOS合金薄膜,这可能归因于能带结构的优化和光吸收能力的增强。 4.结论 本研究通过掺杂硫和氮共掺杂的方法制备了p型ZnO薄膜,并对其结构和光电性能进行了全面分析。结果表明,S-N共掺杂使ZnO薄膜的导电性能得到改善,能带结构优化,进一步提高了其光电转换效率。该研究为进一步开发p型ZnO材料的应用提供了重要的理论和实验依据。 参考文献: [1]ZhangL,ZhangS,WuQ,etal.PreparationandcharacterizationofS-Nco-dopedp-typeZnOthinfilms[J].AppliedSurfaceScience,2015,357:1927-1931. [2]LiuY,ZhangY,LiuD,etal.EffectofS-Ncodopingonthepropertiesofp-typeZn1-xMgxO:Pthinfilms[J].MaterialsScienceinSemiconductorProcessing,2018,87:112-118.