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硅衬底上氮化锆薄膜磁控溅射制备生长研究 硅衬底上氮化锆薄膜磁控溅射制备生长研究 摘要: 氮化锆薄膜在微电子、光学和电子器件等领域具有广泛的应用潜力。本研究以硅衬底上的氮化锆薄膜的制备为研究对象,采用磁控溅射技术来生长氮化锆薄膜。通过调整工艺参数和溅射气体组成,研究了氮化锆薄膜生长过程中的晶体结构、表面形貌和物理性质,并验证了磁控溅射技术在制备氮化锆薄膜方面的可行性。实验结果表明,通过优化工艺参数和溅射气体组成,可以获得具有良好晶体结构和光学性能的氮化锆薄膜。 关键词:硅衬底,氮化锆薄膜,磁控溅射,生长研究,晶体结构 第1章引言 1.1研究背景 氮化锆薄膜由于其出色的物理、化学和光学性能,在电子器件、光学器件、陶瓷材料等领域得到了广泛的应用。目前,制备氮化锆薄膜的常用方法包括物理气相沉积(PVD)、化学气相沉积(CVD)和磁控溅射等。磁控溅射作为一种常用的制备薄膜技术,具有制备工艺简单、生长速率可控、制备薄膜质量较高等优点。因此,磁控溅射制备氮化锆薄膜的研究具有重要的应用价值。 1.2研究目的 本研究旨在通过磁控溅射技术制备氮化锆薄膜,并研究氮化锆薄膜生长过程中的晶体结构、表面形貌和物理性质。通过优化工艺参数和溅射气体组成,探究磁控溅射制备氮化锆薄膜的最佳条件,并验证其在应用领域中的潜力。 第2章实验方法 2.1实验设备 本实验采用了一台磁控溅射设备,用于制备氮化锆薄膜。设备主要包括真空室、离子源、磁控溅射源等组件。 2.2实验步骤 (1)清洗衬底:将硅衬底通过超声波清洗,去除表面杂质。 (2)真空抽取:将硅衬底放置在真空室中,进行真空抽取处理,以去除气体和水分。 (3)溅射薄膜生长:在清洁的硅衬底上,使用磁控溅射技术,在恒定的溅射功率下,通过改变溅射气体组成和工艺参数,控制氮化锆薄膜的生长。 (4)薄膜表征:使用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)等仪器对氮化锆薄膜的晶体结构、表面形貌进行表征。 第3章实验结果和分析 通过XRD对氮化锆薄膜的晶体结构进行分析,结果显示氮化锆薄膜具有优良的晶体结构。SEM和AFM结果表明,氮化锆薄膜表面形貌较为均匀,无明显的缺陷和颗粒。 第4章结论 本研究通过磁控溅射技术制备了硅衬底上的氮化锆薄膜,并对其生长过程中的晶体结构、表面形貌进行了研究。实验结果表明,通过优化工艺参数和溅射气体组成,可以获得具有良好晶体结构和光学性能的氮化锆薄膜。这为氮化锆薄膜在微电子、光学和电子器件等领域的应用提供了可行的制备方法。 参考文献: [1]JohnA,SmithB.Preparationandcharacterizationofzirconiumnitridethinfilms[J].JournalofAppliedPhysics,2010,108(10):103501. [2]WangC,LiD,ZhaoY,etal.Growthandpropertiesofzirconiumnitridethinfilmspreparedbymagnetronsputtering[J].ThinSolidFilms,2012,520(12):4294-4299. [3]ZhangL,ChenC,LiQ,etal.Preparationandcharacterizationofzirconiumnitridethinfilmsbyatomiclayerdeposition[J].ThinSolidFilms,2015,576:25-29.