一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法.docx
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一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法.docx
一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法摘要:光谱椭偏仪在光学测量领域具有重要的应用价值。为了保证光谱椭偏仪的测量准确性和可追踪性,本论文提出了一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法。该方法通过建立一个标定系统,分别对光谱椭偏仪的偏振度和波长进行标定。实验结果表明,该方法能够有效地提高光谱椭偏仪的测量准确性,同时保证了测量结果的可追溯性。关键词:光谱椭偏仪;标定;可溯源性;波长;偏振度1.引言光谱椭偏仪是一种用于测量光的偏振度和波长的仪器,具有广泛的应用领域,包括光学显微镜、光学薄膜等。然而,
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一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法摘要:光谱椭偏仪是一种重要的光学测量仪器,在许多领域广泛应用,如化学分析、材料研究、光电子学等。然而,由于光学元件的非完美性和测量误差的存在,光谱椭偏仪的测量精度往往受到限制。为了提高光谱椭偏仪的精度,需要对其进行标定。本文介绍了一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法,该方法可追踪标准器件的测量结果,实现标准化和自动化的光谱椭偏仪标定。关键词:光谱椭偏仪、标定、可溯源、光学元件引言:光谱椭偏仪是一种基于法拉第效应原理的仪器,可测量物质对平面偏振光的旋转角度和偏振度。它广泛应用于化学分
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椭偏仪的校准方法研究作者:赵琳李锁印许晓青韩志国冯亚南梁法国(中国电子科技集团公司第十三研究所计量中心,石家庄,050051)摘要:在微电子行业生产过程中,膜厚测量是非常重要的工艺参数。本文主要介绍了用于测量膜厚的测量仪器——椭偏仪,并以膜厚标准样片的研制与定标方法为主要研究内容,对椭偏仪的校准方法进行了分析研究,并对其进行了不确定度分析。关键词:膜厚,膜厚标准,椭偏仪,校准,不确定度0.引言在微电子制造领域,微纳米尺度膜厚作为其核心参数之一,广泛应用于器件中。膜厚的精确测量,对器件制造的一致性和可靠性起
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