扫描电镜实验分析技术及应用.docx
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扫描电镜实验分析技术及应用扫描电镜实验分析技术及应用扫描电镜(ScanningElectronMicroscope,SEM)是一种非常重要的实验分析仪器,它能够在纳米和微米尺度上对样品进行高分辨率的成像。SEM可以通过使用电子束来扫描样品表面,产生高清晰度的三维图像和表面形貌,能够提供更大的细节和更高的分辨率,以便更准确地描述和理解样品的特性和性质。本文主要是对SEM实验分析技术及应用进行详细阐述。一、SEM实验分析技术1.样品制备:样品制备是SEM实验分析技术的关键环节。在样品制备过程中,需要考虑一些关
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实验十六扫描电镜对材料组织的分析(验证性)一、试验目的1.了解扫描电子显微镜结构原理,以及在金相分析中的应用。2.掌握马氏体、贝氏体、回火马氏体、回火托氏体、回火索氏体在扫描电子显微镜中的形貌。二、实验原理1、扫描电子显微镜的结构扫描电子显微镜可粗略分为镜体和电源电路系统及冷却系统。如图3-1所示,镜体是由电子光学系统、样品室、检测器以及真空抽气系统组成。电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈等。电源电路系统由控制镜体部分的各种电源、信号处理、图象显示和记录系统以及用于全部电气部分的操作面板构成。真空
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1.扫描电镜的产生MaxKnoll(1897-1969)ErnstRuska(1906-1988)电子显微镜下的蚊子1.1光学显微镜的局限性1.2电子显微镜的理论基础根据德布罗意物质波假设,电子束具有波粒二象性:1.3电子显微镜透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscopes,TEM)——是一种高分辨率,高放大倍数的显微镜,是观察和分析材料的形貌,组织和结构的有效工具。它用聚焦电子束作为照明源,使用对电子束透明的薄膜试样(几十到几百nm),以透射电子为成像信号。原理:电子枪产