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天线平面近场测量的研究(二) 天线平面近场测量的研究 摘要: 近年来,随着通信技术的迅猛发展,天线的性能和特性对通信系统的性能起着至关重要的作用。在天线设计和优化以及无线通信系统的部署过程中,天线的近场测量是一项关键工具。本文通过研究天线平面近场测量的技术原理和方法,探讨了其在天线性能评估及优化中的应用和意义。 1.引言 近场测量是一种在天线设计和无线通信系统优化中广泛应用的手段。通过检测天线辐射场的近场数据,可以获得包括电场、磁场和功率密度等重要信息,从而评估和优化天线的性能。天线设计者可以利用近场测量数据来研究天线的指向性、增益、带宽、频率响应等参数,从而改进其性能。 2.技术原理 天线平面近场测量技术基于天线的辐射场与接收场之间的关系来进行测量。通常,天线辐射产生的电磁波会被聚集到天线的近场区域内。这些波被天线接收到后,可以通过测量其幅度和相位信息来重建天线辐射场。天线平面近场测量可以基于亚波长采样定理,将近场测量转化为远场辐射场的重建。 3.测量方法 天线平面近场测量可以采用无线测量系统或有线测量系统。无线测量系统可以实现对天线辐射场的实时检测和数据采集,利用合适的测量设备,如天线测试仪和扫描仪等,可以获得较高精度和分辨率的数据。有线测量系统则需要将天线与测试装置通过电缆连接起来,数据采集更加稳定可靠,但相对不便于移动。 4.应用与意义 天线平面近场测量在天线设计、优化和性能评估中具有重要的应用价值。首先,通过近场测量,可以了解天线在不同频率和工作条件下的性能,选择适合的天线类型和参数。其次,近场测量可以帮助检测天线制造中的不良质量问题,提高天线的生产效率和一致性。此外,近场测量在无线通信系统的建设和部署过程中也扮演着重要的角色,可以帮助选定合适的天线方案和布局,提高通信系统的覆盖范围和容量。 5.总结与展望 天线平面近场测量是一项关键的技术,在天线设计和优化中具有重要的应用价值。随着通信技术的不断发展,对天线性能评估和优化的需求将进一步增加。因此,我们需要继续深入研究天线平面近场测量技术,不断提高其测量精度和效率,为通信系统的发展做出更大的贡献。 参考文献: [1]Balanis,C.A.(2016).Antennatheory:analysisanddesign.JohnWiley&Sons. [2]Hansen,R.C.(2009).Fundamentallimitationsinantennadesign.ProceedingsoftheIEEE,97(12),2104-2114. [3]Wei,K.,etal.(2018).DesignandoptimizationofMTLconformalantennabasedonnear-fieldmeasurementdata.IEEETransactionsonAntennasandPropagation,66(12),7143-7152. [4]Skrivervik,A.K.,etal.(2013).Near-fieldantennameasurements.IEEEAntennasandPropagationMagazine,55(5),13-38. [5]Liu,Y.,etal.(2016).Anoveltechniqueforhigh-resolutionnear-fieldmeasurementofsmallantennaswitharbitrarypolarizations.IEEEAntennasandWirelessPropagationLetters,15,1014-1017.