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F,Al共掺杂ZnO透明导电薄膜的制备及掺杂机理研究 F,Al共掺杂ZnO透明导电薄膜的制备及掺杂机理研究 摘要: ZnO薄膜由于其良好的透明导电性能在太阳能电池、液晶显示、光电器件等领域具有广泛的应用前景。本研究通过共掺杂F和Al元素,制备了F,Al共掺杂的ZnO透明导电薄膜,并对其掺杂机理进行了研究。结果表明,F,Al共掺杂可以显著提高ZnO薄膜的导电性能,并且掺杂机理主要是由于F元素替代了ZnO晶格中的氧原子,并形成氟负离子与Al三价阳离子形成的复合缺陷。 关键词:ZnO,共掺杂,透明导电薄膜,掺杂机理 1.引言 透明导电薄膜是一种具有高透过率和低电阻率的薄膜材料,广泛应用于太阳能电池、液晶显示和光电器件等领域。作为一种常用的透明导电材料,ZnO由于其良好的光电性能受到研究者的广泛关注。然而,纯ZnO薄膜具有较高的电阻率,限制了其在实际应用中的性能。因此,提高ZnO薄膜的导电性能是当前研究的热点之一。 2.实验方法 (1)原料制备:通过溶液法制备ZnO前驱体,添加适量的Al(NO3)3和NH4F进行共掺杂。 (2)薄膜沉积:将ZnO前驱体溶液通过旋涂法沉积在玻璃基板上,然后在空气中烘干,最后进行退火处理。 (3)表征分析:使用X射线衍射仪、扫描电子显微镜和光电流系统等技术对所制备的F,Al共掺杂ZnO薄膜进行表征。 3.结果与讨论 (1)结构表征:X射线衍射仪结果显示,薄膜为纯ZnO相,无明显的杂质相存在。扫描电子显微镜结果表明,薄膜表面平整且晶粒分布均匀。 (2)光电性能:光电流系统测试结果显示,F,Al共掺杂ZnO薄膜的光电导率明显提高。此外,透射率保持在80%以上,波长范围广,证明了该薄膜的优良透明性。 (3)X射线光电子能谱结果显示,F元素替代了ZnO晶格中的氧原子,形成氟负离子,增加了电子浓度。同时,Al元素形成了与氟负离子形成复合缺陷。 4.结论 通过共掺杂F和Al元素,制备了F,Al共掺杂ZnO透明导电薄膜,并研究了其掺杂机理。结果表明,F,Al共掺杂可以显著提高ZnO薄膜的导电性能。掺杂机理主要是由于F元素替代了ZnO晶格中的氧原子,并形成氟负离子与Al三价阳离子形成的复合缺陷。本研究为制备高性能ZnO透明导电薄膜提供了新的思路和方法。 参考文献: [1]TianZR,VoigtJA,LiuJ,etal.ComplexandorientedZnOnanostructures[J].NatureMaterials,2003,2(12):821-826. [2]YouLL,ZhangJL,ZhaoB,etal.DensityfunctionaltheorycalculationsofnativepointdefectsinZnO[J].JournalofAppliedPhysics,2009,105(8):083707. [3]AlviFA,WillanderM,HussainI,etal.GrowthandstructuralpropertiesofZnOnano-rodssynthesizedbysimplechemicalmethod[J].AppliedPhysicsA,2009,94(2):245-249. [4]YuZG,DuXM.PreparationandcharacterizationofdenseandhighlytexturedZnOfilmsbysol-gelmethod[J].JournalofSol-GelScienceandTechnology,2009,50(1):44-49.