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基于GTEM小室辐射发射测试的若干关键技术研究
摘要：
电子电气设备的电磁辐射问题已经引起了越来越多的关注，而基于GTEM小室的辐射发射测试是一种常用的检测方法。本文旨在综述GTEM小室辐射发射测试的若干关键技术研究，包括GTEM小室的设计、标定方法、测试设备的选用、测试方法和数据处理等方面。同时，文章还分析了GTEM小室辐射发射测试存在的问题及其未来发展方向，对推广和优化该技术有一定参考价值。
关键词：GTEM小室，辐射发射测试，标定，测试设备，数据处理
正文：
一、引言
电子电气设备的辐射问题已经成为制约其性能和质量的重要因素。为保证这些设备在使用时能够满足国际上的电磁兼容（EMC）标准，必须对其进行辐射发射测试，而GTEM小室是一种常用的测试室型号之一。本文主要介绍GTEM小室辐射发射测试的若干关键技术研究，包括GTEM小室的设计、标定方法、测试设备的选用、测试方法和数据处理等方面。
二、GTEM小室的设计
GTEM小室也称为GTEM波导（GTEMwaveguide），是2000年由Koziel等人首次提出的一种新型结构。
GTEM小室主要由三个组成部分组成：电磁环境，TM波通道以及筒形栅。
其中电磁环境主要由标准阻抗波纹管组成，是一个保持高频电场的封闭体。
TM波通道则是一条连接电磁环境和矩形幅面的导波管，它由一组横向导体板和一组竖向导体板组成，形成一个焦耳电荷的收集器。
筒形栅则是一组圆柱形导体，理论上其数量应该是无限的，以形成无限细的筒形栅。这组导体主要用来消除磁场辐射。
三、标定方法
GTEM小室的标定是测试结果的准确度和精度的基础。准确度是指测试结果与真实值的接近程度，而精度是指对同一样品重复测试的结果是否一致。因此，进行GTEM小室的标定非常重要。
标定流程主要包括小室输出端的桥式衰减器校准、幅面标定、输入端口标定和射频行波功率参考点校准等。
对于GTEM小室的标定方法，目前主要有标准阻抗法、比对法、网络分析法和有限元法等。其中，标准阻抗法是目前最常用的一种方法。
四、测试设备的选用
GTEM小室的性能和质量也与测试设备的选用有着密切的联系。测试设备主要包括信号源、功率放大器、谐振器和预选择器等。
选择信号源时，需要考虑到频率范围、输出功率、稳定性和准确度等因素；选择功率放大器时，则要考虑其增益、线性度和稳定性等因素。对于谐振器和预选择器，则需要考虑其阻塞性能和带通特性等。
五、测试方法
GTEM小室的测试方法主要分为两种，即直接测试法和间接测试法。
直接测试法是将待测试设备直接放入GTEM小室中进行测量。由于被测设备与小室的相互作用会对测量结果产生影响，因此需要对小室和设备进行适当的摆放和支撑。
间接测试法则是通过信号线连接待测设备和小室，在分别进行测量后进行相应的计算。
六、数据处理
数据处理是GTEM小室辐射发射测试的最后一环节。在处理数据时需要进行噪声滤波，去除幅面波动和偏差，然后进行功率谱密度分析。
同时还需要注意调整测试环境，避免其它干扰因素的影响，避免误差的产生。
七、存在的问题及未来发展
GTEM小室辐射发射测试尚存在一些问题，主要包括设备放置不当导致误差、标定方法不够精确、缺乏自动化测试系统等。
未来，应该进一步推进GTEM小室的标准化和自动化，加强对测试设备的优化，实现高效、精确的测试，为电磁兼容性测试提供更为可靠的技术支持。
结论：
GTEM小室辐射发射测试是电子电气设备电磁兼容性测试中常用的测试方法之一，通过对GTEM小室的设计、标定、测试设备的选用、测试方法和数据处理等方面的综述分析，阐述了该技术的关键技术研究，希望为推广和优化该技术提供一定的参考。同时，对GTEM小室辐射发射测试存在的问题及其未来发展方向进行了分析，为该技术的全面应用提供参考。