

钨的沉积和钨刻蚀残留的改善.docx
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钨的沉积和钨刻蚀残留的改善.docx
钨的沉积和钨刻蚀残留的改善论文题目:钨的沉积和钨刻蚀残留的改善摘要:钨是一种重要的金属材料,在微电子工业中被广泛应用于电极和导线的制备。然而,钨的沉积和钨刻蚀残留可能导致电子器件性能下降和可靠性问题。本文对钨的沉积和钨刻蚀残留的问题进行了研究,并提出了一些改善措施。实验结果表明,通过优化沉积和刻蚀工艺参数,可以有效改善钨的沉积和钨刻蚀残留情况,提高微电子器件的性能和可靠性。1.引言在微电子工业中,钨是一种常用的金属材料,因其高熔点、低电阻率和良好的热稳定性而受到青睐。钨被广泛应用于电极、导线、接触等微电子
钨的沉积和钨刻蚀残留的改善的综述报告.docx
钨的沉积和钨刻蚀残留的改善的综述报告钨是自然界中存在的一种重金属元素,常用于制造高温和高强度的材料,例如耐火电炉等。然而,钨制品的制造工艺中常涉及钨的沉积和刻蚀,这些问题会导致制品质量下降甚至成品无法使用。因此,改善钨的沉积和刻蚀残留是一个重要的课题,本文将对此进行综述。钨的沉积是指在制造过程中,钨在加工表面形成均匀和致密的涂层,这往往需要在特殊条件下进行。普通的钨沉积方法包括热蒸发、离子注入、物理气相沉积等。其中,物理气相沉积(PhysicalVaporDeposition,PVD)是一种广泛应用的方法
一种监控钨CMP工艺出现的晶边钨残留的方法.pdf
本发明提供一种监控钨CMP工艺出现的晶圆边缘钨残留的方法,包括以下步骤:提供检测晶圆,在检测晶圆的表面形成氧化物膜层,氧化物膜层覆盖中心区域和边缘区域的表面;对氧化物膜层执行钨CMP工艺,并测试晶圆边缘区域处对氧化物膜层的研磨速率;以及根据检测晶圆边缘氧化层研磨速率来监控钨CMP机台的状态,据此判断产品晶圆是否会在边缘区域存在大量的钨残留。本发明通过上述步骤可以通过在线监控氧化物膜层的研磨速率来替代在线监控钨膜层的研磨速率来监控钨CMP工艺出现的晶边钨残留状况,实现提前预防由于钨残留导致钝化层蚀刻制程出现
改善通孔刻蚀残留的方法.pdf
本发明提供了一种改善通孔刻蚀残留的方法,在金属硬质掩模一体化刻蚀之后,包括:对刻蚀腔体的侧壁进行轰击,以使所述刻蚀腔体内的金属副产物及非金属副产物游离;向所述刻蚀腔体内通入第一反应气体,所述第一反应气体与所述金属副产物反应后生成第一反应物附着在所述刻蚀腔体的侧壁上;对所述刻蚀腔体的侧壁再次进行轰击,以使所述刻蚀腔体内的所述非金属副产物游离;向所述刻蚀腔体内通入第二反应气体,所述第二反应气体与所述非金属副产物反应后生成第二反应物附着在所述刻蚀腔体的侧壁上;对所述第一反应物及所述第二反应物的表面进行处理,以修
多金属钨栅极刻蚀方法.pdf
本发明揭露了一种多金属钨栅极刻蚀方法,该刻蚀方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上依次形成有栅极氧化层、多晶硅层、阻挡层、钨层以及图形化的硬掩膜层;将所述半导体衬底放置于刻蚀设备的反应室中;以所述图形化的硬掩膜层为掩膜,刻蚀所述钨层、阻挡层、多晶硅层以及栅极氧化层,以形成多金属钨栅极,其中,刻蚀所述钨层和阻挡层所采用的刻蚀气体为氯气和三氟化氮,所述氯气和三氟化氮的气体比例为1∶1~2∶1。本发明可减小负载效应,并可获得具有较佳的边缘轮廓的多金属钨栅极。