基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计的任务书.docx
骑着****猪猪
在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便
相关资料
基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计.docx
基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计摘要:随着集成电路技术的不断进步,半导体器件规模逐渐缩小,电路密度不断增大。在单电子领域,随机粒子或高能电子的击打,很容易导致故障和错误的发生。针对这样的问题,本文提出了一种基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计。该设计通过使用ICAP技术对SRAM存储元件进行监测和修复,有效地提高了FPGA抗单粒子翻转的能力。实验结果表明,在经过该系统设计的FPGA中,单粒子翻转的概率显著降低。关键词:
基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计的任务书.docx
基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计的任务书任务书项目名称:基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计任务目的:本任务旨在研究针对现有SRAM型FPGA普遍存在的翻转故障问题,设计出一种基于ICAP的抗单粒子翻转系统。任务内容:1.研究现有SRAM型FPGA存在的翻转故障问题及其产生原因,了解ICAP技术的应用和原理。2.建立针对SRAM型FPGA的模型,搭建实验平台,进行单粒子翻转的实验,收集数据并分析结果。在此基础上,设计出抗单粒子翻转的方案。3.在FPGA内部集成ICAP模
基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计的开题报告.docx
基于ICAP的SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计的开题报告一、研究背景SRAM(StaticRandomAccessMemory)型FPGA(FieldProgrammableGateArray)是目前商用FPGA性能和应用中最广泛的一种,广泛应用于各种复杂控制系统、通信系统和高性能计算平台。但是,由于单粒子翻转(SingleEventUpset,SEU)概率增大,SEU对SRAMFPGA的影响也越来越大。例如,长时间飞行、高强度电磁脉冲辐射等条件下,会大大增加SRAMFPGA作为计算器件的随机故障率
SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究.docx
SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究摘要:随着集成度的不断提高,FPGA(现场可编程门阵列)被广泛应用于各种领域,例如通信、计算机视觉和嵌入式系统等。作为在实时应用中可被编程的硬件资源,FPGA需要保持高可靠性和稳定性。然而,由于强单粒子翻转效应(SEU)的存在,FPGA的性能和可靠性会受到影响,而且这种影响会随着半导体尺寸的缩小而愈加明显。为了提高FPGA的可靠性,对于单粒子翻转以及如何避免这种效应进行深入的研究就显得尤为重要。本文主要研究SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术,重点探讨了FPGA单粒子翻
基于SRAM型FPGA抗单粒子措施研究.docx
基于SRAM型FPGA抗单粒子措施研究摘要:随着半导体技术的不断发展,电子设备密度越来越高,同时也对其抗辐射能力提出更高的要求。SRAM型FPGA广泛应用于航空、航天、探测器等领域,在极端环境下更需要具有较高的抗单粒子特性,确保设备的稳定运行。因此,本文重点研究了SRAM型FPGA抗单粒子措施,分析了影响其稳定性的因素,并提出了相应的措施。关键词:SRAM型FPGA;抗单粒子;措施;稳定性;影响因素一、引言在航空、航天、探测器等极端环境下,电子设备的稳定性和可靠性是非常重要的。而单粒子辐射则是设备故障的主