基于ATE的快充芯片的测试系统设计及其测试中trim技术研究的任务书.docx

基于ATE的快充芯片的测试系统设计及其测试中trim技术研究的任务书
一、课题背景
随着移动设备的普及，快速充电成为了人们的刚性需求。由于快充技术的引入，人们的充电时间被极大的缩短，充电效率也得到了明显的提高。快充技术的核心是快充芯片，而此类芯片的主要的测试系统是基于ATE的。因此，基于ATE的快充芯片测试系统研究，对快充技术的发展有着深远的意义。
二、研究目标
本课题的目标是：设计一套基于ATE的快充芯片测试系统，并探索在测试中的trim技术，以提高测试系统的测试精度和测试效率。
三、主要研究内容
1.基于ATE的快充芯片测试系统设计
本课题将设计一套基于ATE的快充芯片测试系统。其主要包括测试控制器、测试程序、测试夹具和测试平台等四个部分。其中测试控制器通过测试程序对芯片进行测试，测试夹具和测试平台则是将待测芯片连接上测试系统的关键环节。本研究将从系统设计的角度探讨测试控制器的功能、测试程序的编写、测试夹具和测试平台的设计等方面。
2.trim技术的研究
研究trim技术在测试中的优化作用。trim技术是针对芯片参数不稳定或者芯片参数漂移的问题提出的一种可调整参数的技术。常见的trim技术有偏置电流trim技术和基准电压trim技术等。本研究将探索基于trim技术的寄存器存取操作方式，并给出具体的操作流程。
四、技术路线
本研究将采用以下技术路线进行：
1.系统设计：
选择模拟器RALF和硬件平台ATE完成测试控制器的设计，选择Python和C++语言编写测试程序，对测试夹具和测试平台进行物理设计。
2.trim技术研究：
研究基准电流trim技术和基准电压trim技术的调节方法，从芯片级别探究寄存器存取操作方式的可行性，并给出具体的操作流程。
五、预期成果
本研究主要有以下成果：
1.设计出一套基于ATE的快充芯片测试系统。
2.给出基于待测芯片参数漂移特性分析的trim操作方法，并验证trim技术在测试中的优化作用。
3.探究基于寄存器存取操作方式的测试方案，并给出可行性的操作流程。
六、可行性分析
本研究主要的研究对象是基于ATE的快充芯片测试系统，而此类测试系统已被广泛应用于半导体领域中的测试和量测任务中。因此，目前存在足够的相关技术资料和实验平台，保证了本研究的可行性。探究trim技术在测试中的应用以及基于寄存器存取操作方式的测试方案，是本研究的一些开拓性的领域，具有较高的研究难度。本研究将充分利用所具备的技术和资源，保证了研究的可行性。
七、研究计划
根据研究目标和主要研究内容，本研究将按以下计划进行：
1.前期调研（1个月）
调查现有的基于ATE的测试系统的相关资料和干系人需求，了解trim技术在测试中的应用现状以及基于寄存器存取操作方式的测试方案。
2.系统设计（2个月）
根据调研结果，完成测试控制器的设计，测试程序的编写，测试夹具和测试平台的设计。
3.trim技术的研究（3个月）
本阶段将探讨基准电流trim技术和基准电压trim技术的调节方法，从芯片级别探究寄存器存取操作方式的可行性，并给出具体的操作流程。
4.结果验证（1个月）
验证本研究提出的测试系统、trim技术和寄存器存取操作方式的有效性。
5.论文撰写（1个月）
根据研究结果撰写研究论文。